Gebraucht JEOL JWS 7515 #9256119 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Proben im Nanometermaßstab. Es kombiniert hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen in einer einzigen Geräteplattform. Das Gerät verfügt über eine Beschleunigungsspannung bis zu 30 kV für eine verbesserte Auflösung und Niederspannungserkennung für empfindliche Proben. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist mit dem EDS-System (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) von EDAX ausgestattet, das eine überlegene elementare Identifikation ermöglicht. Der Detektor ist physisch und digital mit JEOL SEM gekoppelt, um Bedienflexibilität und einfache Sichtkontrolle zu gewährleisten. JEOL JWS-7515 Rasterelektronenmikroskop bietet eine effiziente und einfach zu bedienende Schnittstelle mit Touchscreen und intuitiven Steuerungsfunktionen. Es bietet eine ganze Reihe von Abbildungsmodi einschließlich SEI, SE2 (Sekundärelektronen), BSE (rückgestreute Elektronen), BSED (Backscatter Electron Diffraction), EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), EBSD (Electron Backscatter Scraction) JWS 7515 Rasterelektronenmikroskop ist für eine breite Palette von Materialien wie Biomaterialien, Polymere, Metalle, Legierungen, Keramik, Gläser und so weiter entworfen. Dieses vielseitige SEM bietet sowohl hochauflösende Bildgebung als auch quantitative Elementaranalyse mit einem Röntgendetektor. Messungen können sowohl in leitfähigen als auch in nicht leitfähigen Materialien schnell und genau durchgeführt werden. JWS-7515 Rasterelektronenmikroskop transportiert eine hochpräzise Positioniereinheit mit Nanometer-Pegelwiederholbarkeit, die eine schnelle und genaue Navigation der Probe ermöglicht. Die hohe dielektrische Abschirmung trägt zur Reduzierung des Objektaufladungsartefakts bei und ermöglicht das Anlegen von optimaler Spannung, Strahlstrom und Emission. Es bietet auch Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung und -analyse mit einer breiten Palette von integrierten Softwarepaketen, so dass Betreiber Bilder und Daten aus dem SEM schnell und genau bewerten können. Darüber hinaus bietet die Software eine Reihe benutzerfreundlicher Bildanalysetools und spezialisierter Anwendungsmodule wie FEG-STEM Analyzer, Automation und CAD-Vergleich. JEOL JWS 7515 Rasterelektronenmikroskop bietet eine zuverlässige bildgebende und analytische Maschine mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Es ist ein zuverlässiges Werkzeug für Industrie, Forschung und akademische Umgebung. Dieses SEM ist ein leistungsstarkes Werkzeug für materialwissenschaftliche Studien und bietet eine breite Palette von bildgebenden Funktionen.