Gebraucht JEOL JWS 7515 #9286621 zu verkaufen

ID: 9286621
Weinlese: 1996
Scanning Electron Microscope (SEM) 1996 vintage.
JEOL JWS 7515 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen im Bereich der elektronischen Nanofabrikation entwickelt wurde. Dieses Instrument verfügt über eine bewährte Erfolgsbilanz der überlegenen Leistung in hochauflösender Bildgebung und extrem zuverlässige Scanfunktionen. JEOL JWS-7515 verfügt über eine einzigartige hochpräzise bildgebende Ausrüstung, die über ein robustes mechanisches und elektrisches Design verfügt. Dieses System umfasst eine fortschrittliche Beschichtungstechnologie zur Verbesserung der bildgebenden Auflösung und Zuverlässigkeit. JWS 7515 ist ein hochmotorisiertes, aber kompaktes Rasterelektronenmikroskop. Dieses Modell verfügt über eine leistungsstarke 20 - 200 kV Feldemissionskanone (FEG), die eine optimale Auflösung und hervorragende Bildgebungsgenauigkeit liefert. Die integrierte In-Objektiv-Schottky-Pistole sorgt für schnelle und genaue Navigation bei der Aufnahme von Bildern. Darüber hinaus macht die automatisierte Sammlung von Auto-Fokus-Bildern den Erfassungsprozess schnell und bequem. JWS-7515 verfügt über viele hochmoderne Komponenten, wie eine unabhängige Fernlicht-Austasteinheit, dreidimensionale Bühnensysteme, eine variable Anzeigeoption und eine schnell schaltende Kontrastmaschine. Dieses Mikroskop verfügt auch über eine einzigartige Lithiumdiode Beam Optics Control (BOC) Werkzeug, das maximale Bildauflösung und zeitliche Stabilität bietet. Darüber hinaus bietet JEOL JWS 7515 zweitharmonische bildgebende Funktionen, mit denen Forscher sowohl die atomare als auch die molekulare Struktur von Proben beobachten können. Die Spezifikation von JEOL JWS-7515 wurde entwickelt, um überlegene bildgebende Leistung und einfache Bedienung zu bieten. Dieses Modell hat eine Auflösung von 2 Nanometern, ein großes Sichtfeld, das eine subtile Visualisierung der Probenstruktur ermöglicht, und eine große Schärfentiefe, die eine fokussiertere und detailliertere Betrachtung ermöglicht. Es ist in der Lage, Bilder mit hoher Vergrößerung und niedriger Vergrößerung zu erzeugen, die qualitativ hochwertige, detaillierte Ergebnisse liefern. Insgesamt ist JWS 7515 ein hervorragendes Rasterelektronenmikroskop mit modernster Technologie, die hochauflösende und genaue Bildgebung durchführen kann. Es hat ein vielseitiges Design, das für eine Vielzahl von Anwendungen im Bereich der elektronischen Nanofabrikation geeignet ist. Die leistungsstarken Funktionen dieses Instruments machen es zu einem der zuverlässigsten und kostengünstigsten Mikroskope, die auf dem heutigen Markt erhältlich sind.
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