Gebraucht JEOL JWS 7515 #9298655 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 Rasterelektronenmikroskop ist ein hochpräzises Instrument für fortschrittliche wissenschaftliche und industrielle Forschung verwendet. Es ist in der Lage, Sub-Nanometer-Auflösungen, so dass eine detaillierte Charakterisierung der Nanometer-Skala Strukturen von vielen Materialien. Es ist mit einer Field Emission Gun und einem digitalen PC-Controller ausgestattet und bietet zuverlässige Leistung und Vielseitigkeit. JEOL JWS-7515 ist für maximale Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit konzipiert, so dass es ideal für eine breite Palette von Aktivitäten wie Analyse von Materialkursen, Schadensanalyse, Fehleranalyse, Montageprozess, Metallographie, etc. Seine Standardauflösung beträgt 0,5 nm und ermöglicht eine hochauflösende Abbildung von nanoskopisch großen Strukturen. Das Gerät bietet folgende Vorteile wie berührungslose Bildgebung eines größeren Sichtfeldes, umfangreiche Flexibilität für die Probenbeobachtung, vierdimensionale Messfähigkeiten (X, Y, Z und Energy) und hervorragende Wiederholbarkeit. Es verfügt auch über optionale Add-on-Software-Tools, die eine automatische Bildverarbeitung und Quantifizierung ermöglichen. Das Gerät ist mit JEOL EDS-Detektor ausgestattet, der eine überlegene Auflösung und schnelle Analyse der chemischen Zusammensetzung und Verteilung bietet. Das Gerät bietet auch eine breite Palette von Abbildungsmodi, wie Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen, Kathodolumineszenz und In-Linsen-Detektoren. JWS 7515 eignet sich bestens für ein breites Spektrum an industriellen, Forschungs- und Bildungsanwendungen. Es kombiniert hervorragende Bildqualität, Genauigkeit und Auflösung und bietet gleichzeitig eine vollständige Flexibilität in Bezug auf die bildgebenden und analytischen Anforderungen der Benutzer. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche und eine Vielzahl hilfreicher Bedienungsfunktionen, so dass es für eine breite Palette von Bedienern einfach zu bedienen ist.