Gebraucht JEOL JWS 7515 #9399595 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es wurde entwickelt, um hochauflösende Bildgebung und detaillierte Analyse einer Vielzahl von Proben, einschließlich biologischer und anorganischer Proben, bereitzustellen. Das Mikroskop verfügt über eine Feldemissionskanone, die bei hoher Vergrößerung eine überlegene Leistung und Stabilität bietet. Die Pistole produziert auch einen hochempfindlichen Sekundärelektronendetektor, der eine detaillierte Bildgebung in Nieder- und Hochvakuumumgebungen ermöglicht. Darüber hinaus verfügt JEOL JWS-7515 über ein einzigartiges Gerät mit variablem Druck, mit dem der Benutzer den Druck der Kammer einstellen kann, ohne die Auflösung des Bildes drastisch zu ändern. JWS 7515 bietet eine breite Palette von bildgebenden und analytischen Fähigkeiten, wie rückgestreute Elektronen (BSE) -Bildgebung, Korrosionsbildgebung, Kathodolumineszenzbildgebung, energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und gerichtete Strahlkathodolumineszenz. BSE-Bildgebung gibt dem Benutzer die Möglichkeit, zwischen verschiedenen Elementen in der Probe zu unterscheiden, während Korrosionsbildgebung das Vorhandensein von Korrosion auf einer Probe zeigen kann. Die Kathodolumineszenz-Bildgebung dient der Analyse von Proben, die von einem Elektronenstrahl emittiert werden, während EDS zur Bestimmung der Zusammensetzung der Probe verwendet werden kann. Besonders hilfreich für die Abbildung von Proben mit hohem Gehalt an organischem Material ist die gerichtete Strahlkathodolumineszenz des Mikroskops. JWS-7515 umfasst auch einen Sekundärelektronendetektor, mit dem hochauflösende Bilder der Oberflächenstruktur des Materials erfasst und die Oberflächentopographie detektiert werden kann. Die Niedrigvakuumeinstellung des Mikroskops bietet eine überlegene Bildgebung, ohne auf Auflösung zu verzichten, während die Hochvakuumeinstellung eine Bildgebung in ultrahoher Vergrößerung ermöglicht. Das Mikroskop enthält auch ein In-Objektiv-Navigationssystem, mit dem Benutzer das Sichtfeld des Mikroskops einfach steuern können. Darüber hinaus umfasst JEOL JWS 7515 eine breite Palette von Softwarepaketen, wie die EasyScan 3-Einheit und eine Open-Source-Softwareplattform, um Benutzern umfangreiche Optionen für die Nachbearbeitung ihrer Bilder zu bieten. Zusammenfassend ist JEOL JWS-7515 ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop, das eine überlegene Bildgebung und detaillierte Analyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht. Das Mikroskop verfügt über eine Feldemissionskanone, einen Sekundärelektronendetektor und eine Maschine mit variablem Druck, mit der Benutzer eine Vielzahl von Probentypen präzise abbilden können. Darüber hinaus enthält JWS 7515 eine breite Palette von Softwarepaketen für die Nachbearbeitung von Bildern, was es zu einer ausgezeichneten Wahl für Benutzer macht, die ein hochwertiges SEM suchen.