Gebraucht JEOL JWS 7515 #9412229 zu verkaufen

JEOL JWS 7515
ID: 9412229
Wafergröße: 8"
Scanning Electron Microscope (SEM), 8".
JEOL JWS 7515 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hohe Auflösung mit ausgezeichneter Schärfentiefe kombiniert. Sein Design basiert auf der bewährten JEOL JMS Serie von SEMs, die eine feinstufige Probenebene von besser als 1,7 mm aufweisen. JEOL JWS-7515 maximiert Auflösung und Bildkontrast mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) und einem digitalen Bilddetektor. Es bietet Hochgeschwindigkeitsbilder mit einer Live-Bildrate von bis zu 200 Bildern pro Sekunde. JWS 7515 ist ein Mittelhochvakuum-SEM, d.h. es arbeitet mit einem Druckbereich von mittlerem sekundärem bis hohem primärem Vakuum. In dieser Art von Umgebung können Elektronen leicht und mit wenigen Kollisionen reisen. Dadurch entsteht ein hochauflösendes Bild mit guter Schärfentiefe, da Elektronen, die vom FEG emittiert werden, durch die Objektivlinse und in Richtung der Probe auf der Bühne beschleunigt werden. Das Objektiv von JWS-7515 kann eingestellt werden, um klare Bilder über einen Bereich von Vergrößerungen von 5x bis 300kx zu erhalten. JEOL JWS 7515 beinhaltet eine Gasspülausrüstung und automatisierte Bühnensteuerungen. Dadurch kann der Benutzer die Position der Probe anpassen und interessierende Elemente genau lokalisieren. Die Vakuumverhältnisse können auch beim manuellen Betrieb der Stufe durch das Gasspülsystem aufrechterhalten werden. Die Gasspüleinheit verhindert auch, dass Verunreinigungen in den Vakuumraum des SEM gelangen. JEOL JWS-7515 verfügt über mehrere Funktionen zur Verbesserung der Bildgebung im SEM. Dazu gehören digitale Kontrast- und Farbbildgebung, BCM (Beam Current Monitor) und ABi (Automated Backside Imaging). Der Kontrast- und Farbabbildungsmodus verbessert die Klarheit und den Kontrast von niedrigen Signalproben, während BCM hilft, konsistente Abbildungsbedingungen aufrechtzuerhalten. Über ABi können Benutzer auf der Rückseite einer Probe Merkmale abbilden und messen sowie Formen und Oberflächenmorphologie auf beiden Seiten analysieren. JWS 7515 ist dank seiner hohen Auflösung und Schärfentiefe eine ausgezeichnete Wahl für viele SEM-Anwendungen. Es verfügt über eine Reihe von Funktionen und Dienstprogramme zur Verbesserung der Bildqualität und Genauigkeit. Seine Gasspülmaschine und automatisierte Bühnensteuerung machen es ideal für anspruchsvolle Anwendungen. Mit seiner hohen Bildgeschwindigkeit können JWS-7515 detaillierte Bilder schnell aufnehmen.
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