Gebraucht JEOL JWS 7550 #137194 zu verkaufen

JEOL JWS 7550 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Visualisierung von Objekten im Nanoskalibereich verwendet wird. Es ist mit einem 3,2-Nanometer-Auflösungssystem ausgestattet, das hochauflösende Bilder einer Vielzahl von Probentypen bereitstellt. Sie ist in der Lage, je nach Art der beobachteten Probe entweder energiesparend oder energiesparend zu arbeiten. Das System ist über eine benutzerfreundliche Softwareschnittstelle zugänglich. Diese intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht eine schnelle Bedienung und Anpassung von Mustern. Die Software kann auch verwendet werden, um detaillierte Bilder von Probenoberflächen zu erstellen, so dass eine genaue Analyse möglich ist. Darüber hinaus stehen eine Reihe weiterer Analysefunktionen zur Verfügung, wie elementares Mapping, Zeilenprofilabtastung, Röntgenanalyse und Elektronenrückstreuung. JWS 7550 bietet eine einfach zu bedienende Plattform zur schnellen Analyse von Proben, die komplizierte Details und Analysen erfordern. Im Design besteht JEOL JWS 7550 aus einer Säulen-, Basis- und Geschützbaugruppe. Die Basis besteht aus einem Aluminiumdruckgussrahmen mit einer eloxierten Oberfläche für Haltbarkeit und einfache Reinigung. Die Säule ist aus einer bearbeiteten Aluminiumlegierung mit einer starren Konstruktion für zuverlässige Leistung aufgebaut. Die Geschützanordnung besteht aus einer Elektronenkanone, Elektronenquelle und Probensubstraten zur Beobachtung. Ferner ist eine Kapazitätsblende zur Filterung und Isolierung des Elektronenstrahls installiert. Die JWS 7550 wurde so konstruiert, dass sie wartungsfrei ist und die Eigenleistung getestet wird, um sicherzustellen, dass jede Einheit optimal arbeitet. Darüber hinaus steht ein komplettes Zubehör für die Probenvorbereitung und -analyse zur Verfügung. Die Vielzahl an bildgebenden Verfahren macht dieses SEM zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Forschungsanforderungen. JEOL JWS 7550 ist ein leistungsstarkes bildgebendes Werkzeug, das einen unschätzbaren Einblick in die Strukturen und Eigenschaften nanoskaliger Partikel bietet. Seine Fähigkeit, Auflösung auf Augenhöhe mit anderen SEMs zu produzieren und gleichzeitig eine intuitive Benutzeroberfläche bereitzustellen, macht es zu einer ausgezeichneten Wahl für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungsanwendungen.