Gebraucht JEOL JWS 7550 #9028224 zu verkaufen

JEOL JWS 7550 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und analytischen Analyse von Materialien. Es ist eine Art Elektronenmikroskop, das mit einem Elektronenstrahl vergrößerte Bilder einer Probe erzeugt. JWS 7550 ist ein Zwischenspannungs-SEM mit einer Feldemissionskanone mit dedizierter Elektronenoptik. Diese Kombination von Technologie liefert ultrahochauflösende Bildgebung bei hohen Vergrößerungen zur Erzeugung detaillierter Bilder der Mikrostruktur eines Materials. JEOL JWS 7550 verfügt über ein elektronisch fokussiertes System mit einem digitalen Rückkopplungssystem für verbesserte Auflösung und Kontrast. Es verfügt über einen energiedispersiven Röntgen- (EDX) Detektor zur Elementaranalyse von Proben und ein volles Sichtfeld von 150 mm bei einem Arbeitsabstand von 28mm. Dies ermöglicht ein breites Sichtfeld und einen großzügigen Platz für Proben während der Bildgebung. JWS 7550 bietet eine ausgezeichnete Bildauflösung von 1,7 nm bei einer Beschleunigungsspannung von 1-30 kV. Es verfügt über eine Ultrahochvakuum (UHV) -Kammer, die Niedervakuum-Abbildungsmodi ermöglicht, um das Risiko einer Kontamination einer Probe während der Analyse zu reduzieren. Das SEM verwendet einen hochpräzisen elektrischen Säulenantrieb für die vibrationsfreie und genaue Bewegung der Probenstufe. Dadurch werden die Aberrationen bei der Bildaufnahme drastisch reduziert. Darüber hinaus wurde die Energiefiltertechnologie integriert, die eine Erhöhung des Signal-Rausch-Verhältnisses ermöglicht und dadurch qualitativ hochwertigere Bilder erzeugt. Darüber hinaus verwendet JEOL JWS 7550 den neuesten Image Deblurring Mechanismus (IDM), um Einfallsinformationen zu verwenden, um Unschärfen zu reduzieren, die durch räumliche Schwankungen in mittelarmen Verbindungen verursacht werden. Das System ist mit automatischen Navigationsbildnähten ausgestattet, die es ermöglichen, ein ganzes Objektsichtfeld in einem einzigen hochauflösenden Bild zu erfassen. JWS 7550 ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die industrielle und akademische Forschung. JEOL JWS 7550 kombiniert eine hochauflösende Feldemissionskanone, EDX-Funktionen, einen umfassenden Stufenantriebsmechanismus und ein neuestes IDM zum Entgraten von Bildern und bietet erweiterte Analysefunktionen für eine Vielzahl von Probentypen.