Gebraucht JEOL JWS 7555 #293791443 zu verkaufen

JEOL JWS 7555 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges High-End-Werkzeug, das entwickelt wurde, um ein hohes Leistungsniveau in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen zu erreichen. Die 7555 ist mit einer Energie-dispersiven Röntgen- (EDX) Mikroanalyse-Ausrüstung ausgestattet, die es ermöglicht, die elementare Zusammensetzung der Proben bis zu einer Submikron-Auflösung zu identifizieren und zu analysieren. Das SEM verfügt auch über variable Druck- und Umgebungsbetriebsmodi, so dass der Benutzer biologische, geologische und andere Materialien in einer Vielzahl von Einstellungen beobachten und analysieren kann. Die hochauflösenden Abbildungsmöglichkeiten der 7555 sind beeindruckend, wobei die Einheit bei einer Beschleunigungsspannung von 15 keV eine Auflösung von weniger als 0,5 nm erreicht. Es bietet auch ein breites Sichtfeld und eine große Schärfentiefe, so dass mehrere Schichten einer Probe beobachtet und analysiert werden können. Die maximale Vergrößerung beträgt das 150.000-fache und bietet ein Drift-Korrektursystem für stabile Bildgebung. Es unterstützt auch mehrere Steuergeräte, darunter eine Digitalkamera, ein Elektronenstrahlmikroskop und eine Niedervakuumkammer. Mit der leistungsstarken EDX-Einheit kann die 7555 Röntgenstrahlen von Proben mit einem Durchmesser von bis zu 50 nm anregen und erkennen. Es ist mit einer Energiefiltermaschine ausgestattet, um die Qualität der Röntgenstrahlen zu verbessern und verfügt über einen Detektor mit einem breiten Dynamikbereich, so dass es eine breite Palette von Elementen analysieren kann. Es verfügt sowohl über qualitative als auch quantitative Analysefähigkeiten, so dass es Elemente in einer Probe identifizieren und die relative Konzentration dieser Elemente anzeigen kann. Die 7555 ist auch recht benutzerfreundlich, mit intuitiven Bedienelementen und einer funktionsreichen grafischen Benutzeroberfläche. Der Benutzer kann Bilder speichern und abrufen, seine Prozesse automatisieren und Bildschirmoperationen durchführen. Es verfügt auch über gut integrierte Sicherheitsfunktionen, wie eingebaute Interlocks und Echtzeit-Statusinformationen. Mit seinem außergewöhnlichen Leistungsspektrum ist das Rasterelektronenmikroskop JWS 7555 eine ideale Wahl für eine Reihe von Industrie- und Forschungsanwendungen.