Gebraucht JEOL JWS 7555 #9298946 zu verkaufen

JEOL JWS 7555 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Oberflächen und Strukturen. Das Mikroskop verfügt über eine Punkt-zu-Punkt-Auflösung von 5 nm, sodass es detaillierte Bilder von Funktionen mit einer Größe von 20 Nanometern oder mehr erstellen kann. Die Spalte ist sowohl für niedrige Beschleunigung als auch für Feldemissionen optimiert, um maximale Leistung und Auflösung zu gewährleisten. JWS 7555 ist mit einem spezialisierten hochempfindlichen ultraschnellen Elektronendetektor ausgestattet, der die Signal-Rausch-Verhältnisse erhöht und die Aufnahme ultrakleiner Bilder bei extrem niedriger Elektronenbeleuchtung ermöglicht. Die Säule hat auch eine einstellbare Betriebsspannung, so dass der Bediener die Betriebsparameter einstellen kann, ohne die physikalischen Parameter des SEM zu ändern. Das Mikroskop verfügt über eine fortschrittliche Nachbearbeitungspipeline, die es Anwendern ermöglicht, die Ergebnisse ihrer Bilder zu analysieren und zu bearbeiten, die Genauigkeit zu erhöhen und sogar dreidimensionale Bilder und Messungen zu ermöglichen. Darüber hinaus bietet das SEM auch automatisierte Interaktionen zur Beschleunigung von Datenerfassungsaufgaben sowie eine verbesserte benutzerfreundliche Oberfläche. JEOL JWS 7555 ist für eine Reihe von Anwendungen optimiert, einschließlich Routinefehler- und Fehleranalysen, Elektronik, Medizintechnik und verschiedene Nanostrukturen. Seine hohe Auflösungsfähigkeit und einstellbare Elektronenstrahlparameter ermöglichen eine breite Palette von Messungen, einschließlich Oberflächen- und Massenanalyse, elementare Abbildung, hochauflösende Abbildung und Signal/Rauschcharakterisierung. Infolgedessen ist JWS 7555 das ideale Werkzeug für detaillierte Fehleranalysen, Fehlerisolierung und physikalische Charakterisierung. JEOL JWS 7555 ist die perfekte Ergänzung zu jedem Labor oder Produktionsumfeld, das ein fortschrittliches und zuverlässiges SEM benötigt. Die intuitive Benutzeroberfläche und vielseitige Anwendungen machen dies zu einem perfekten Werkzeug, um jede Oberfläche oder Struktur schnell und genau zu analysieren und die Ergebnisse genau nach Bedarf zu liefern. Dadurch können effiziente und genaue Analysen schnell und einfach durchgeführt werden.