Gebraucht JEOL JWS 7555S #293628489 zu verkaufen

JEOL JWS 7555S ist ein vielseitiges, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für eine Vielzahl von analytischen Anwendungen. Dieses fortschrittliche Modell wurde für optimierte Bildgebung, elementare Mikroanalyse und Strahllithographie entwickelt. JEOL JWS-7555S bietet robotikbasierte Navigations- und Navigationsoptiken, die signifikante Verbesserungen der Bildqualität und der Benutzererfahrung ermöglichen. Die JWS 7555 S ist mit automatisierter Stufe und motorisierter Säule erhältlich und ermöglicht automatisierte Messungen wie Fokuseinstellungen und Bühnenbewegung. Die robuste Leistung und die erweiterten Fähigkeiten von JWS 7555S geben Benutzern die Freiheit, eine breite Palette von Aufgaben mit höchster Präzision zu erfüllen, einschließlich Partikelanalyse, Zeilenscannen, chemische Analyse, Bildgebung, Strukturstudien und mehr. JEOL JWS 7555 S ist in der Lage, rückgestreute Elektronenbildgebung, EDS-Elementaranalyse sowie andere verschiedene verwandte Analysen durchzuführen. JWS-7555S ist in der Lage, hochauflösende Bilder abzubilden und bietet ultrahochauflösende Bilder auf 8 nm Ebene mit einem speziellen Dual-Side-Detektor-Blickwinkel. Der integrierte Monochromator ermöglicht auch eine hochauflösende Bildgebung in leichten und schweren Elementen. JEOL JWS 7555S bietet auch ein weites Sichtfeld (FOV), das es dem Benutzer ermöglicht, ein breiteres Spektrum von Details in Proben zu beobachten. Darüber hinaus kann das Mikroskop auch eine größere Tiefenschärfe (DOF) für die 3D-Bildgebung höherer Auflösung sowie einen besseren Kontrast für eine genauere Bildanalyse erreichen. JEOL JWS-7555S wird mit fortschrittlicher Software geliefert, die automatisierte Analysen bietet und Spitzenprofile in Sekunden berechnet. Es bietet auch eine Reihe von automatisierten Funktionen, wie automatisierte SEM-Bildgebung, Datenerfassung und automatisierte Analyse. JWS 7555 S verfügt auch über eine innovative, Niedervakuumkammer (LV), die es Anwendern ermöglicht, Proben unter einer Vielzahl von Bedingungen zu beobachten und zu analysieren, von niedrigem bis zu hohem Vakuum. JWS 7555 bieten auch eine Reihe von Entdeckern für verschiedene Anwendungen, wie Secondary Electron (SE), Backscattered Elektron (BSE), Röntgenstrahl, Ultraviolettes Photoelektron (UVP), Röntgenstrahlspektroskopie, AALE und Elektronrückstreuungsbeugungssysteme (EBSD) an. Insgesamt ist JEOL JWS 7555 S ein fortschrittliches, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern eine Reihe von Funktionen, leistungsstarke Fähigkeiten und ein außergewöhnliches Benutzererlebnis bietet. Dieses SEM ist eine ideale Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure, die ein fortschrittliches Instrument benötigen, das hochauflösende Bildgebung, anspruchsvolle analytische Funktionen und eine Reihe automatisierter Funktionen bietet.