Gebraucht JEOL JWS 7555S #293761147 zu verkaufen
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ID: 293761147
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 8"
2000 vintage.
JEOL JWS 7555S ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), ideal für die Probenüberwachung, Fehlerinspektion und Bildung in den Bereichen Materialwissenschaft, Life Sciences und Halbleiterforschung. Dieses Tool bietet eine hochauflösende Bildgebung mit einer Auflösung von 0,2 Nanometern in Sekundärelektronen sowie ein breites Sichtfeld von bis zu 13 mm Durchmesser. Das SEM fungiert neben seiner typischen Abtast- und Bildgebungsfähigkeit als leistungsfähiger Sekundärelektronendetektor in der Linse. Zu den Hauptmerkmalen gehört eine umfassende Probenvorbereitungskammer. JEOL JWS-7555S präsentiert eine Vielzahl von Probenvorbereitungsverfahren, wie Sputtern mit Argon, Beschichten mit Kohlenstoff, Wärmebehandlungen und die Manipulation von Vakuumspiegeln. Diese Merkmale ermöglichen die Vorbereitung einer Vielzahl von Proben. Darüber hinaus liefert seine analytische Ausstattung wesentlich mehr Details als herkömmliche optische Mikroskope. Das Analysesystem umfasst energiedispersive Spektroskopie, Kathodolumineszenz und allseitige Analyse. JWS 7555 S verfügt auch über eine automatisierte Bühneneinheit. Dies ermöglicht eine berührungslose Probenbewegung innerhalb ihrer 3-achsigen geschlossenen Schleifenbewegung. Die Bühne ist zudem mit einer Autofokus-Funktion ausgestattet, die den Fokus ohne manuellen Eingriff fein einstellen kann. Eine automatisierte Planheitserfassungsmaschine minimiert optische Verzerrungen des Bildes während der Bildgebung. Die Stabilität des Werkzeugs ist außergewöhnlich. JEOL JWS 7555 S bietet eine vibrationsfreie Schallspektersteuerung, um die Auswirkungen von Umwelteinflüssen auf die Daten zu minimieren. Dies hilft, Verschiebungen in der Position des Elektronenstrahls zu minimieren. Zusätzlich enthält das Werkzeug Kollisionsvermeidungsmerkmale, die die Kollisionsmöglichkeit zwischen Proben und Elektronenstrahl reduzieren. Abschließend ist JWS 7555S ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Auflösung und Fähigkeiten bietet. Die umfangreichen Probenvorbereitungskammern und die automatisierte Bühnenanlage bieten beispiellose Details und Genauigkeit und machen es zu einer idealen Wahl für die Forschung auf hohem Niveau.
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