Gebraucht JEOL JWS 7555S #293771161 zu verkaufen

JEOL JWS 7555S ist ein weltweit führendes hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Bilder von unvergleichlicher Detailtreue und Qualität wiedergibt. Sein modulares Hochfrequenzvakuumsystem ermöglicht einen stabilen Betrieb und zeichnet sich im Bereich der Nanometerabtastung aus. Mit seiner hohen Beschleunigungsspannung von bis zu 300kV hat JEOL JWS-7555S die Fähigkeit, Nanotopographien sowie elementare und chemische Zusammensetzung der Probe aufzudecken. Die optimierte In-Linsen-Optik von JWS 7555 S sorgt für maximale optische Leistung und Auflösung. Sein einzigartiger rückgestreuter Elektronendetektor bietet eine ausgezeichnete Tiefenauflösung und ein geringes Rauschen sowie eine hervorragende Bildqualität. Die Verwendung von zwei Mini-Boom-Detektoren, einer in der Nähe der Mikroskopstufe, ermöglicht die gleichzeitige Beobachtung von monochromen, dreistufigen und hellen Feldbildern. Darüber hinaus bietet die neue Form Dual-In-Linsen-SE-Detektor hervorragende SE-Bildgebungsfähigkeit für niedrige kV-Beobachtung. JWS 7555S bietet eine große Flexibilität mit einer Auswahl an Ultrahochvakuum- oder Niederdruckoptionen. Sein fortschrittliches Brückendesign trägt zu seiner überlegenen Stabilität und Tragfähigkeit bei und macht es zu einem zuverlässigen Werkzeug für Nanomaterialherstellung, Lithographie und Nanotechnologie. Das System beinhaltet eine vollständige Ergänzung mit ausgefeilter Software für 3D/4D Scannen, automatisierte Analyse und Quantifizierung. Die intuitive und benutzerfreundliche Benutzeroberfläche erleichtert effizientes Arbeiten, auch durch unerfahrene Benutzer. JEOL JWS 7555 S ist das beste verfügbare SEM und bietet ausgezeichnete Leistung und Wert für die Forschung und industrielle Gemeinschaft. Seine fortschrittlichen bildgebenden Fähigkeiten und seine ausgezeichnete Benutzeroberfläche machen es zu einer überlegenen Wahl für jede Elektronenmikroskop-Anwendung, von der Mikrofertigung bis hin zu Studien zur Submikron-Auflösung.