Gebraucht JEOL JWS 7555S #9139641 zu verkaufen

JEOL JWS 7555S ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Abbildung von Proben mit einer großen numerischen Apertur ermöglicht. Das Mikroskop verwendet ein Elektronensäulendesign mit einer hochauflösenden Schottky Field Emission Source (FES), um Drift zu reduzieren und die Auflösung zu verbessern. Das mehrkanalige Detektorsystem besteht aus einer Lumatec Aperture, einem Dual-Detektor SE/HAD Detection System, einem 4channel Super Röntgen EDX für Elementaranalyse und einem EDS System für Energiespektren. Die integrierten digitalen Bildgebungs- und Analysesysteme bieten leistungsstarke Bildgebungs-, Steuerungs-, Dokumentations- und Analysefunktionen. Das Design von JEOL JWS-7555S ermöglicht eine breite Palette von Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, wie die Bildgebung auf Tiefen jenseits 1 µm mit mehr als 30K Vergrößerungen; hoher Kontrast, geräuscharme Bildgebung; schnelle Bilderzeugung mit mehreren Bildern; automatisierte Navigationsprozesse; und gleichzeitige Anzeige mehrerer Bilder. Das Mikroskop bietet auch elementare Analyse mit Energie dispersive Röntgen- (EDX) Spektroskopie, so dass Benutzer Menüs öffnen und Proben schnell analysieren. Das Rasterelektronenmikroskop zeichnet sich durch ein ergonomisches Design und hochautomatisierte Arbeitsabläufe aus, so dass es für mehrere Anwendungen einfach zu bedienen ist. Das Mikroskop bietet auch automatisierte Funktionen wie automatische Ausrichtung und automatische Neukalibrierung. Die integrierte Software macht es einfach, eine optimierte Benutzeroberfläche und Steuerung sowie automatisierte Such- und Analysefunktionen zu haben. JWS 7555 S ermöglicht eine beispiellose Auflösung und Bilderfassung sowie minimiert die Notwendigkeit, dass ein Bediener das Mikroskop manuell anpasst, um optimale Ergebnisse zu erzielen. Das Mikroskop bietet auch mehrere Ausgabeformate, mit denen Benutzer Ergebnisse exportieren, drucken oder teilen können. Seine fortschrittlichen technologischen Eigenschaften ermöglichen es Forschern, feinste Proben mit viel Detail zu beobachten und zu analysieren.