Gebraucht JEOL JWS 8000Z #293621075 zu verkaufen

JEOL JWS 8000Z ist ein hochpräzises Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine zuverlässige, hochleistungsfähige Bildgebung und Analyse von Materialoberflächen und Unterflächenstrukturen konzipiert ist. Es ist ein Dual-Beam SEM/Focus Ion Beam (FIB) Instrument, das eine simultane Bildgebung und Nanostrukturherstellung ermöglicht. Das 8000Z verfügt über eine ultrahochauflösende CFEM-Pistole (Cold Field Emission), die einen hochwertigen Wolframstrahl mit einem maximalen Beschleunigungspotential von 1,6 kV und Abblendstromrauschen liefert und eine überlegene Auflösung, Tiefenschärfe und niedrigen Ladungsbetrieb erreicht. Das 8000Z ist mit einem kontrastreichen Backscatter-Detektor und einem kombinierten sekundären In-Linsen-Elektronendetektor und herkömmlichen Backscatter-Detektor ausgestattet, um präzise Zusammensetzungen und strukturelle Informationen mit ultrahoher Empfindlichkeit bereitzustellen. Es hat auch eine variable Druckkammer (VP), um unempfindliche Materialien zu analysieren, die eine niedrige Beschleunigungsspannung erfordern. Die 8000Z verfügt auch über Probenautomatisierungsfunktionen, die eine automatisierte Probenvorbereitung, Bildgebung und Analyse über eine mehrstufige motorgesteuerte Stufe ermöglichen. Das 8000Z verfügt außerdem über einen integrierten Everhart-Thornley Segmented Detektor, mit dem der Benutzer eine energiedispersive Röntgenanalyse (EDX) mit überlegener Auflösung durchführen kann. Die automatisierte WDS Elemental Mapping Funktion ermöglicht auch die mikroanalytische Messung der Probenzusammensetzung. Das 8000Z verfügt über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche mit einem Touchscreen-Monitor und fortschrittlicher Software, die eine leistungsstarke und einfache Bedienung und eine GIS-basierte Fernbedienung ermöglicht. Alle Einstellungen werden im Speicher gespeichert, um wiederholbare Ergebnisse und Analysen mit denselben Bedingungen zu ermöglichen. Insgesamt ist JEOL JWS-8000Z ein fortschrittliches, hochauflösendes elektrostatisches Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer ultrahochauflösenden Kaltfeldemissionspistole, vielseitigen Detektoren, Probenautomatisierungsfunktionen und einem integrierten Everhart-Thornley Segmented Detector. Es bietet überlegene bildgebende Qualität und Präzisionsanalysefähigkeit und liefert zuverlässige Leistung für bildgebende und analytische Anwendungen in einer Vielzahl von Branchen.