Gebraucht JEOL JWS 8755S #9035885 zu verkaufen

JEOL JWS 8755S Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein beliebtes Modell von SEM in vielen Bereichen der Wissenschaft und Technologie, einschließlich Materialwissenschaft, Umweltstudien und medizinische Bildgebung verwendet. JWS 8755S bietet leistungsstarke Analysefunktionen und überlegene Vergrößerungsfunktionen. Das System verfügt über eine ultrahohe Auflösung von 2,5 nm, ein großes Sichtfeld und eine ausgezeichnete Rückstreuelektronen-Bildgebungsfähigkeit. Der Vergrößerungsbereich ist breit, mit 5 bis 175kX Vergrößerungsbereich und 1kX bis 1 Millionx Vergrößerungsbereich. Es kann auch extrem hohe Helligkeitsstufen und Kontrastwerte erreichen, so dass eine detaillierte Abbildung kleiner struktureller Details möglich ist. JEOL JWS 8755S bietet auch erweiterte Funktionen für Hochgeschwindigkeits-digitale Video-Fähigkeit. JWS 8755S verfügt über eine variable Druckprobenkammer, die die Analyse von Proben in verschiedenen Druckumgebungen ermöglicht. Dieses Merkmal macht das System auch hervorragend für die Untersuchung von Proben im Vakuum, wie beispielsweise in Elektronenmikroskopen mit widerstandsfähigen Beschichtungen. Darüber hinaus ermöglicht die Konfiguration der großen Schleppstufen-Probenstufen eine breite Palette von Probenanalysen mit mehreren Detektoren. JEOL JWS 8755S bietet fortschrittliche optische und digitale Funktionen wie einen kontrastreichen Anti-Kontrast-Detektor, Dual-Energy-Filter und Elektronenstrahl-Austastung. Es verfügt auch über fortschrittliche Software und automatisierte Datenerfassung mit Kamerafunktionen, eine große interne Speicherkapazität und eine benutzerfreundliche Computeroberfläche. JWS 8755S verfügt über ein leistungsfähiges automatisiertes Analysepaket zur automatisierten Bildanalyse von Proben, das eine hervorragende Bildqualität für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. Darüber hinaus bietet dieses Modell auch Informationsquellen Verfolgung und Verzögerung Spannung direkte Steuerung. Das automatisierte Analysepaket ermöglicht eine einfache Analyse von Proben sowie komplexere Anwendungen wie die automatisierte chemische Analyse. Insgesamt bietet JEOL JWS 8755S eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen und Funktionen und ist damit eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen im Rasterelektronenmikroskop. Die vielseitige Design- und Systemsoftware macht dieses Modell zu einer ausgezeichneten Wahl für medizinische Bildgebung, Umweltstudien, Materialwissenschaften oder jede andere SEM-Anwendung, bei der hochauflösende Bildgebung und Analyse erforderlich sind.