Gebraucht JEOL JXA 733 #9033622 zu verkaufen

JEOL JXA 733 ist ein hochpräzises Rasterelektronenmikroskop, das eine hervorragende Leistung für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen bietet. Es ist mit einem Multi-Mode-Detektor ausgestattet, mit dem sekundäre Elekton, rückgestreute Elektronen und Kathodolumineszenzbilder erfasst werden können. Mit schnellen Abtastgeschwindigkeiten und einer Laser-Autofokus-Ausrüstung für Scanbereiche von bis zu 100 mm ist JEOL JXA-733 in der Lage, hochauflösende Bilder von Objekten aus einer Vielzahl von Materialien, einschließlich organischer und nicht-organischer Proben, zu erzeugen. Zu den Hauptkomponenten des SEM gehören ein Filament, eine Elektronensäule, eine Vakuumkammer, eine Elektronenkanone, eine Objektivlinse und ein Abbildungssystem. Das Filament besteht aus Wolfram und ist in der Elektronensäule montiert. Die aus dem Filament emittierten Elektronen werden auf eine Hochspannung von bis zu 30 kV beschleunigt, bevor sie auf die Probe gerichtet werden. Die Objektivlinse fokussiert diese Elektronen auf die Probe und die Abbildungseinheit dient zur Aufnahme und Analyse des Bildes. JXA 733 verfügt über variable Druckregelungstechnologie, die Stabilität bei niedrigen Vergrößerungen bietet und die Auswirkungen von Drift und Vibrationen reduziert. Es enthält auch einen breiten Dynamikbereichsdetektor und eine einstellbare Schwelleneinstellung, um Bildkontrast und Rauschen zu optimieren. Zu den weiteren Merkmalen der JXA-733 gehören eine Maschine zur Verunreinigung der Oberfläche mit niedrigem Hintergrund zum Schutz der Probe vor Kreuzkontamination, eine Probenkammer mit einer maximalen Vergrößerung von 800x und ein Werkzeug zur Temperaturkontrolle der Probenoberfläche zur Analyse von Proben bei unterschiedlichen Temperaturen. Zusätzlich ist das Mikroskop mit einer integrierten motorisierten Stufe ausgestattet, die die Wiederholbarkeit der gesammelten Bilder und Daten erhöht. JEOL JXA 733 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Leistung bietet und ideal für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen ist. Seine variable Druckregelung und der Detektor mit breitem Dynamikbereich ermöglichen eine bessere Bildaufnahme und -analyse und seine einstellbaren Einstellungen bieten eine optimale Bildqualität und Rauschreduzierung. JEOL JXA-733 ist ein zuverlässiges Werkzeug für die Rasterelektronenmikroskopie mit einer Vielzahl von Funktionen und hochpräzisen bildgebenden Funktionen.