Gebraucht JEOL JXA 733 #9373251 zu verkaufen

JEOL JXA 733 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, eine breite Palette von Probentypen abzubilden und erweiterte analytische Fähigkeiten bereitzustellen. Es verfügt über hochauflösende bildgebende und analytische Funktionen und bietet eine optimale Plattform für die Erkundung von Mikrostrukturen und Materialien. JEOL JXA-733 ist in der Lage, Proben von 30 bis 30.000x Vergrößerung in einer Vielzahl von bildgebenden Modi zu scannen. Es kann hochauflösende digitale Bilder und Oberflächeninformationen mit überlegener Genauigkeit aufnehmen. Hochleistungs-Niederspannungsabtastung kann verwendet werden, um geladene Teilchen wie Elektronen, Ionen und neutrale Atome aufzulösen. Niederspannungsübertragungs- und Sekundärelektronenbildfähigkeiten ermöglichen die Beobachtung von Partikeln mit verbessertem kontrastarmen Detail. Darüber hinaus ermöglichen halbautomatische rückgestreute Elektronenbildgebung und differentielle Kontrastbildgebung eine kontrastreiche Beobachtung komplexer Materialien. JXA 733 bietet auch elementare Mikroanalyse-Funktionen. Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) wird verwendet, um die Zusammensetzung der Probe zu analysieren und die elementare Zusammensetzung der Probe zu bestimmen. Es verwendet auch elektronenstrahlinduzierte Aufladung, die die Identifizierung von nichtleitenden Proben ermöglicht. Darüber hinaus kann die Auger-Elektronenspektroskopie zur weiteren Analyse der Oberflächenzusammensetzung und zur Analyse von Probenoberflächenschichten eingesetzt werden. AALEN oder Elektronenenergieverlustspektroskopie können Masseninformationen analysieren und eine hochauflösende Verteilung von Elementen innerhalb einer Probe bereitstellen. JXA-733 verfügt über eine automatisierte Oberfläche, die ein verbessertes Benutzererlebnis bietet. Mit seinem Steuerungssystem wird das Mikroskop so betrieben, dass Daten mit einer einfachen, einfach zu bedienenden Schnittstelle in Echtzeit genau erfasst werden. Die Scan-Tabelle verfügt über eine breite Palette von Funktionen, darunter automatische Fokussierung, automatische Probenidentifizierung, einfache Scan-Zielanpassung und eine austauschbare Probenphase. Alles in allem ist JEOL JXA 733 ein leistungsstarkes, funktionsreiches Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und erweiterten Analysefunktionen. Seine automatisierte Steuerung und sein breites Spektrum an Bildgebungs- und Analysetechnologien machen es zu einem idealen Werkzeug für Forscher, die Mikrostrukturen und Materialien erforschen.