Gebraucht JEOL JXA 8200 #293755251 zu verkaufen

ID: 293755251
WD/ED Combined microanalyzer.
JEOL JXA 8200 ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM), ideal für eine Vielzahl von Forschungs-, Industrie- und Bildungsanwendungen. Die erweiterten Funktionen von JXA 8200 ermöglichen es dem Benutzer, die feinsten Details einer Probe bei Nanometerauflösungen mit einer hervorragenden Schärfentiefe für die Betrachtung von Strukturen bis zur Mikronenwaage zu visualisieren. Um diese Funktionen bereitzustellen, ist JEOL JXA 8200 mit einer Reihe modernster Technologien ausgestattet. Es verwendet eine leistungsstarke, hochauflösende, thermisch gekoppelte Feldemissionsquelle, um bei allen Vergrößerungen ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis zu erzeugen. Darüber hinaus kann JXA 8200 mit seiner hochstabilen Sekundärelektronensäule und der ultraschnellen Kippstufe XY Auflösungen von 1 nm erreichen, ohne die Säulen wechseln zu müssen. JEOL JXA 8200 nutzt auch eine Vielzahl von automatisierten Bildverarbeitungsmodi, um die Datenerfassung zu erleichtern und einen effizienteren Workflow zu ermöglichen. Es gibt einen Multiproben-Detektor zur gleichzeitigen Abbildung vieler Proben, einen In-Stage-Antrieb zur automatisierten Manipulation der Probe und die Fähigkeit, eine Low-Vacuum-Bildgebung ohne die Notwendigkeit einer Transferkammer zu erfassen. Darüber hinaus lassen sich mit dem integrierten Energy-Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS) System quantitative Analysen und die Identifizierung chemischer Zusammensetzungen problemlos durchführen. Um empfindliche Proben während der Bildgebung zu schützen, enthält JXA 8200 ein leistungsstarkes Vakuumsystem mit einer Pumpgeschwindigkeit von mehr als 50 Litern pro Sekunde. Auf diese Weise können Proben abgebildet werden, ohne dass sie außerhalb ihrer Schutzumgebung übertragen werden müssen, wodurch empfindliche Strukturen erhalten bleiben und Kontaminationen verhindert werden. Darüber hinaus umfasst das System auch bis zu 14 verschiedene Umweltzellen, was dem Anwender die Flexibilität gibt, eine Vielzahl von Proben unter verschiedenen Bedingungen abzubilden. Zusammenfassend ist JEOL JXA 8200 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, ideal für alle Forschungsebenen. Es ist mit zahlreichen Funktionen ausgestattet, um eine hervorragende Auflösung, eine einfache automatisierte Bildgebung und die Fähigkeit, empfindliche Proben ohne Kontamination abzubilden, zu bieten.
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