Gebraucht JEOL JXA 840 #9173746 zu verkaufen

JEOL JXA 840 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein wichtiges Werkzeug zur Visualisierung von Materialien in hoher Auflösung ist. Das Instrument ist in der Lage, Strukturen und Merkmale mit einer Auflösung bis auf wenige Nanometer zu beobachten. Dies ermöglicht eine detaillierte Untersuchung einer Vielzahl von Materialien wie Metalle, Keramik, Halbleiter und biologische Proben. JXA 840 verwendet einen Elektronenstrahl, um über eine Probe zu scannen und ein detailliertes Bild zu erzeugen. Das Gerät verfügt über ein vollautomatisches, hochpräzises X-Y-Scan-Laufwerk, das ein Hochgeschwindigkeits-Scannen ermöglicht und somit ideal für Anwendungen mit hohem Durchsatz geeignet ist. Das Instrument bietet variable Beschleunigungsspannungen von 0,05 bis 30kV, die eine bildgebende und elementare Analyse einer Vielzahl von Probentypen ermöglichen. Neben der konventionellen Bildgebung bietet das Instrument auch eine Reihe spezialisierter bildgebender Funktionen von der Low-kV-Bildgebung bis hin zu Kryobedingungen. Das Instrument verfügt über ein integriertes optisches Mikroskop, das sowohl die visuelle als auch die elektronische Beobachtung von Proben ermöglicht. Diese Fähigkeit eignet sich besonders zur Untersuchung von Proben, die einen größeren Vergrößerungsbereich erfordern. JEOL JXA 840 enthält eine Option für die Energiedispersive Spektrometrie (EDS), die zur Analyse der Probenzusammensetzung verwendet werden kann. Das Instrument verfügt auch über einen gut abgeschirmten, schwingungsarmen, hochempfindlichen EDS-Detektor, der vor elektromagnetischen Störungen geschützt ist, was genaue und zuverlässige Elementaranalyseergebnisse ermöglicht. Das Gerät verfügt über eine große Probenkammer mit einem Temperaturbereich von 10C bis 600C, so dass es für eine Vielzahl von temperaturabhängigen Anwendungen wie thermische Analyse geeignet ist. Darüber hinaus ist das Instrument mit einem Probenmetallisierer mit einer Reihe von Abscheidungsmetallen ausgestattet, was zur Replikation und Konservierung der Topographie verschiedener Probenoberflächen nützlich ist. Insgesamt ist JXA 840 ein unglaublich vielseitiges SEM mit hoher Präzision und Auflösung, das für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen geeignet ist. Mit seinen integrierten Bildgebungs- und Analysefähigkeiten ist es ein unschätzbares Werkzeug zur Charakterisierung, Analyse und Bildgebung von Materialien im Nanobereich.