Gebraucht JOEL JWS-7515 #9155405 zu verkaufen

JOEL JWS-7515
ID: 9155405
Wafergröße: 6"
CD Scanning electron microscope (SEM), 6".
JOEL JWS-7515 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM) mit einer Reihe fortschrittlicher Funktionen, die eine hervorragende Leistung in der kleinen und großen Probenbildgebung bieten. Das leistungsstarke Multi-Mode-SEM verfügt über ein hochmodernes Design, das eine effiziente Bedienung und hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Das Mikroskop bietet ein hochflexibles Sichtfeld mit bis zu 25,2 mm in einem Feld. Es verwendet auch eine verstellbare Bühne mit einem Bereich von +/-6 mm in x- und y-Richtung, so dass Proben im Detail betrachtet werden können. JWS-7515 ist mit einer hochwertigen, großflächigen FEG-Pistole ausgestattet, die ein fortschrittliches Elektronenoptiksystem verwendet, das eine hochauflösende Bildgebungsfähigkeit bietet. Dieses System wird durch eine ultrastabile Stromversorgung gesichert, die eine Elektronenstrahlspannung von bis zu 30kV erreichen kann. Zusätzlich liefert ein kontrastreicher Sekundärelektronendetektor sehr klare Bilder, während der Faraday Cup Strahlstromdichten von 1pA bis 20mA messen kann. Das SEM wurde entwickelt, um benutzerfreundlich und effizient zu sein, mit mehreren Funktionen für die automatisierte Bildgebung. Dazu gehören Auto-Find-Funktionen zur Probenausrichtung und Autokorrekturen für Kammergasdruck, Dosierungen und Spannung. Seine motorisierte Stufe kann einen Sollwert von bis zu 5 μ m halten, so dass sich der Benutzer auf die Probenanalyse konzentrieren kann, ohne sich um die Ausrichtung zu kümmern. JOEL JWS-7515 bietet zudem ein umfangreiches Angebot an möglichen Abbildungsmodi. Dazu gehören die sekundäre und rückgestreute Elektronenbildgebung sowie die Röntgenenergiedispersive Spektroskopie (EDS) und die Elektronenrückstreuung (EBSD). Dieses Instrument bietet auch eine variable Druckabbildung und Ionenpumpmöglichkeit. All diese Eigenschaften machen JWS-7515 zu einem zuverlässigen und vielseitigen Rasterelektronenmikroskop, das sich perfekt für die detaillierte Abbildung einer Vielzahl von Proben eignet. Seine hohe Auflösung, Auto-Find-Funktionen und automatisierte Bühne ermöglichen eine schnelle und genaue Untersuchung von Proben, so dass dieses SEM ideal für diejenigen, die eine überlegene bildgebende Erfahrung benötigen.
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