Gebraucht KLA / TENCOR 8100 #293652756 zu verkaufen

KLA / TENCOR 8100
ID: 293652756
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100 ist ein Desktop-basiertes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die Inspektion von großflächigen Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Die fortschrittliche Elektronenoptik und die bildgebende Optik der KLA 8100 ermöglichen es, Bilder schnell und präzise in hoher Auflösung zu erfassen und zu analysieren, so dass sie sich ideal für die Analyse von Gerätedefekten und Prozessvariationen in fortgeschrittenen Halbleiterproduktionen eignet. TENCOR 8100 bietet eine beeindruckende Reihe von Funktionen wie Hochleistungs-Energiefilter-Bildgebung, Phasenkontrast und spektroskopische Bildgebung. Seine Energiefilterabbildung ermöglicht die kontrastreiche Abbildung von Halbleiterbauelementen und ermöglicht die Eliminierung optischer Interferenzen. Die Phasenkontrast-Bildgebungsfähigkeit verbessert den Flächenkontrast und ermöglicht eine bessere Visualisierung kleiner Merkmale auf komplexen Oberflächen. Schließlich ermöglicht die spektroskopische Bildgebung von 8100 elementare und chemische Abbildungen von Proben für fortgeschrittene Analysen. KLA/TENCOR 8100 bietet eine ausgezeichnete Empfindlichkeit und Auflösung, die eine genaue Abbildung von Proben bei Vergrößerungen bis zu 6000x ermöglicht. Der hochauflösende Detektor der KLA 8100 ist in der Lage, scharfe Bilder von Objekten mit einer Größe von bis zu 1 Nanometer zu erfassen. Darüber hinaus ist TENCOR 8100 mit mehreren Elektronen und bildgebenden Optionen ausgestattet, einschließlich Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und Hell- und Dunkelfeldbildgebung. 8100 ist mit einer breiten Palette von Probenhaltern kompatibel, einschließlich 4-Zoll und 6-Zoll-Wafern, verpackten Geräten und Stoßdüsen. Zusätzlich zu den erweiterten Bildgebungsfunktionen von KLA/TENCOR 8100 ist das System mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, die die Bedienung vereinfacht und die Trainingszeit reduziert. Ein großes, vollfarbiges LCD-Display bietet eine interaktive Steuerung der Scanparameter und ermöglicht es Benutzern, Bilder schnell in der Vorschau anzuzeigen und anzupassen. KLA 8100 bietet auch eine Vielzahl von Nachbearbeitungsfunktionen, die eine effiziente Überprüfung und Analyse von Bildern ermöglichen. Insgesamt ist TENCOR 8100 eine ausgezeichnete Wahl für das Studium großflächiger Halbleiterscheiben. Seine leistungsstarken Bildgebungsfunktionen, seine intuitive Benutzeroberfläche und seine vielseitigen Probenhalter machen ihn zu einem idealen Werkzeug für eine detaillierte Fehleranalyse und Prozessüberwachung.
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