Gebraucht KLA / TENCOR 8100 #9215494 zu verkaufen

KLA/TENCOR 8100 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches bildgebendes Werkzeug, das verwendet wird, um eine Vielzahl von Proben bei hohen Vergrößerungen zu untersuchen. Mit einer Nennbeschleunigungsspannung von 1,2-30 kV und einer Auflösung von 1,3 nm ermöglicht KLA 8100 SEM die Analyse von Proben bis auf Atomniveau. TENCOR 8100 SEM kommt mit einer breiten Palette von Funktionen und Funktionen ausgestattet. Ein integriertes digitales Bildgebungssystem ermöglicht die Erfassung extrem hochauflösender Bilder über ein extrem großes Sichtfeld. Es steht eine Probenstufe zur Verfügung, die eine Vielzahl von Mikroskopiebedürfnissen wie gestufte euzentrische Stufen und automatisierte Bühnenbewegungsmöglichkeiten abdeckt. Doppeldetektoren, darunter ein Everhart-Thornley SE-Detektor und ein BSE/Bremsstrahlung-Detektor, ermöglichen detailliertere Analysen der Oberflächenmorphologie einer Probe. 8100 SEM verfügt auch über eine Reihe von Automatisierungsfunktionen, einschließlich automatisierter Betriebsprogrammierung, automatisiertem Autofokus und automatisiertem Bright/Dark-Field Beampath Switching. Automatisierte Abbildungsroutinen ermöglichen schnelle Bildaufnahmen, während durch automatisierte Fokus- und Helligkeitsanpassungen manuelle variable Eingaben entfallen. KLA/TENCOR 8100 SEM ist mit einer Reihe von Zubehörteilen, Anbaugeräten und Detektoren kompatibel, die für spezifische Mikroskopieanwendungen entwickelt wurden. Zum Zubehör gehören Umweltkammern, Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) Module und Liquid Argon Cryo Chambers. In Kombination mit diesen Zubehörteilen und Detektoren bietet KLA 8100 SEM qualitativ und quantitativ Forschungseinblicke und -daten in ein breites Feld. Mit einer benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche, einer vielseitigen Probenstufe und einer Reihe automatisierter Funktionen ist TENCOR 8100 SEM ein ideales Werkzeug zur Erfassung detaillierter hochauflösender Bilder aus einer breiten Palette von Probenmaterial. 8100 SEM ist ein wesentliches Instrument für Forschung und industrielle Einstellungen, die hochauflösende Bildgebung, Materialanalyse und Submikronmorphologie erfordern.