Gebraucht KLA / TENCOR 8100 #9269359 zu verkaufen

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ID: 9269359
Wafergröße: 4"-8"
Weinlese: 1997
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-8" Non SMIF Power supply: 120 V, 30 A 1997 vintage.
KLA/TENCOR 8100 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in der Fehleranalyse und Materialforschung. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Schaltungsdefekten, Nanostrukturen, dünnen Schichten und anderen kleinen Objekten aufzulösen. KLA 8100 hat ein kompaktes Ein-Achsen-Design, mit dem es auf einer Tischplatte montiert werden kann. Es ist mit einem Elektronenbelichtungsgerät (EES) ausgestattet, das aus einer empfindlichen Elektronenquelle und einer Hochleistungs- 100kV besteht. Dadurch kann das Mikroskop hochauflösende Bilder bei verschiedenen Vergrößerungen liefern. Es verfügt außerdem über eine leistungsstarke Elektronensäule mit einem dreistufigen Energieabtastsystem für optimale Bildempfindlichkeit und erhöhte Betriebseffizienz. Das Optikpaket TENCOR 8100 umfasst eine begrenzte Winkelerkennungseinheit (LADS), einen Niederspannungsdetektor in Linsen und einen Sekundärelektronendetektor in Keilform. Dadurch kann der Benutzer verschiedene Parameter einer Probe anzeigen und messen. Weiterhin ist eine Sekundärelektronen (SE) bildgebende Maschine mit hoher Abtastgeschwindigkeit enthalten. Dies sorgt für hochauflösende Bilder und schnellen Durchsatz. 8100 ist ein eigenständiges, automatisiertes Inspektionswerkzeug mit integrierter Bilddatenanzeige. Dies macht es benutzerfreundlich und einfach zu bedienen. Es beinhaltet auch ein integriertes Sampling-Asset, um eine zuverlässige und effiziente Probenbeladung zu ermöglichen. KLA/TENCOR 8100 kann für eine Vielzahl von Anwendungen wie Fehleranalyse, Maßmessungen, Auswertung dünner Schichten, mikroskopische Analyse und Fehleranalyse eingesetzt werden. Dies macht es zu einem vielseitigen und zuverlässigen Werkzeug für eine breite Palette von Laboren und Forschungszentren. Darüber hinaus ist KLA 8100 mit einem Partikeldetektor ausgestattet, der Partikel detektieren, messen und analysieren kann. Dies sorgt für genaue und zuverlässige Ergebnisse. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einem automatisierten Bewegungs- und Neigemodell zur einfachen Probenmanipulation ausgestattet. TENCOR 8100 verfügt über ein hochmodernes Design und Funktionen, die es ideal für verschiedene Anwendungen in der Halbleiter-, MEM- und Nanoteknologie-Industrie macht. Es ist ein zuverlässiges und leistungsstarkes Werkzeug, das bei der Fehleranalyse und Materialforschung hilft.
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