Gebraucht KLA / TENCOR 8100 #9412560 zu verkaufen

ID: 9412560
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das mit der neuesten Technologie entwickelt wurde und überlegene Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet. Es wird häufig in Forschung und Industrie verwendet, um Merkmale einer Oberfläche weit über die Grenzen eines Lichtmikroskops zu beobachten und zu erkennen. Die KLA 8100 verfügt über einen digitalen Sekundärelektronendetektor und eine Bilderfassungsausrüstung, mit der sie Details von Proben in hoher Auflösung erfassen und aufzeichnen kann. Die hohe Leistung und Spannung des Mikroskops ermöglicht es, Bilder bei höheren Vergrößerungen (bis zu 500Kx) effektiv zu erfassen. Die mitgelieferten Hardware-, Software- und Hardware-Integrationskomponenten ermöglichen hochpräzise automatisierte Abläufe und intuitive grafische Benutzeroberflächen (GUI) machen die Bedienung des Mikroskops einfach und effizient. Das System verfügt über eine breite Palette von Fähigkeiten, wie Dünnschichtanalyse und Bildgebung einer breiten Palette von Materialien, einschließlich Metallen, Polymeren und biologischen Proben. Das Energy Dispersive Röntgenmikroanalyse-Zubehör ermöglicht die elementare Charakterisierung, Oberflächenzusammensetzungsanalyse und Fehleranalyse von Proben. Dank der variablen Druck- und Niedervakuumfunktionen eignet sich TENCOR 8100 für die Analyse von Proben mit unterschiedlichen Eigenschaften und Fragilitätsstufen. 8100 umfasst auch Partikelgrößen- und Formanalyse, Oberflächentopographie, Bildgebung und Analyse von 3D-Formen, Rauheitsanalyse und Messung des elektrischen Widerstands. Seine fortschrittlichen Funktionen wie Partikelverfolgung, automatisierte Fokussteuerung und Mustererkennung bieten Forschern noch genauere Messungen und Datensätze. Die Shock Workstation X-Ray Fluoreszenzfunktionen ermöglichen die In-situ Analyse und Bildgebung von Proben ohne zusätzliche Anpassungen oder manuelle Manipulation. KLA/TENCOR 8100 ist zudem mit einem Autoaligning-Fokussiermechanismus und einem fortgeschrittenen Funktionsgenerator ausgestattet, die eine präzise manuelle Steuerung und Manipulation der hochwertigsten Bilder des SEMs ermöglichen. Die Cross-Sectional Imaging Unit ist in der Lage, Daten zu erfassen, die für die Bildabbildung und Erzeugung von 3D-Modellen verwendet werden. Das Rasterelektronenmikroskop KLA 8100 ist eine All-in-One-Maschine zur präzisen Bildgebung und Analyse von Oberflächen mit höchsten Auflösungen. Seine erweiterten Bildgebungs- und Analyseoptionen, kombiniert mit seiner robusten Hardware und benutzerfreundlicher Software, machen TENCOR 8100 zu einem unschätzbaren Werkzeug in Forschung und Industrie.
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