Gebraucht KLA / TENCOR 8100XP #9258655 zu verkaufen

KLA/TENCOR 8100XP ist ein Gerät, das fortschrittliche optische und rasterelektronenmikroskopische Fähigkeiten sowie Analysesoftware-Anwendungen kombiniert, um eine hochauflösende Bildgebung und Inspektion von Materialien, Geräten und anderen Komponenten zu ermöglichen. Es ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine zerstörungsfreie und berührungslose Inspektion von Geräten mit einer Größe von bis zu 10 Nanometern ermöglicht. Es bietet beispiellose Vergrößerungen von bis zu 200kX, zusammen mit der Abbildung von großen Flächen mit ultra-hoher Auflösung. Die KLA- 8100XP besteht aus einer Haupteinheit, dem sogenannten Semiconductor Imaging Microscope (SIM). Diese Einheit enthält einen erweiterten Elektronenkanonen-Emitter für die Bildgebung, sowie einen 3D-Detektor, um Signale von einer Vielzahl von Elektronentypen aufzunehmen. Es umfasst auch eine spezielle Stufe für Manipulations- und Messgeräte sowie ein digitales Bildverarbeitungssystem. Dieses Gerät wurde entwickelt, um eine schnelle und genaue Analyse extrem kleiner Funktionen zu ermöglichen und gleichzeitig hochauflösende Bilder zu liefern. TENCOR 8100 XP verwendet einen TEM-Modus (Transmission Electron Microscope), der zur Inspektion von Oberflächen mit Nanometerauflösung konzipiert ist. Auf diese Weise können Anwender Eigenschaften wie Kristallorientierung, Dotierstoffkonzentrationen und andere physikalische Eigenschaften der zu untersuchenden Probe besser nachweisen. Darüber hinaus ermöglicht die 3D-Bildverarbeitungsmaschine 8100XP die Auswertung topographischer Merkmale wie Defekte, Korngröße und Tiefe. Darüber hinaus nutzt das SEM eine automatisierte Bildnahttechnologie, die die Erstellung größerer Bilder ermöglicht, indem mehrere Bilder zu einem einzigen zusammengefasst werden. Dies erleichtert die genaue Auswertung der Oberflächeneigenschaften größerer Proben, da die Abbildung als Einzelbilder zu lange dauern würde, um praktisch zu sein. TENCOR 8100XP umfasst auch optionale Zusatzsoftware-Anwendungen zur automatisierten Messtechnik-Funktionen wie Merkmalserkennung, Partikelzählung und Größenanalyse, Linienbreitenmessungen und andere Profilmessungen. Diese Anwendungen sind so konzipiert, dass Anwender Zeit und Aufwand sparen, da sie die Oberflächen komplizierterer Komponenten schnell analysieren können. Insgesamt ist KLA/TENCOR 8100 XP ein leistungsstarkes Instrument für die Analyse von Nanomaterialien und anderen kleinen Geräten. Es bietet hochauflösende bildgebende Funktionen, die die Inspektion und Analyse auch der kleinsten Merkmale ermöglichen. Darüber hinaus ermöglichen die optionalen Softwareanwendungen eine schnellere und automatisierte Analyse von Oberflächen.