Gebraucht KLA / TENCOR 8100XP #9286582 zu verkaufen

KLA/TENCOR 8100XP Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist das neueste Modell der Technik und bietet hochauflösende Bildgebung und präzise analytische Fähigkeiten. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Halbleiterfehleranalyse über die Probenuntersuchung bis hin zur zerstörungsfreien Prüfung mit Röntgen-EDS. KLA 8100XP ist eine automatisierte Halbleiterdefektinspektionsanlage. Dieses System ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Proben mit einer Auflösung von bis zu 0,5 Mikron zu erfassen. Es verwendet sowohl Sekundärelektronen als auch momentanen X-Y-Scan. Darüber hinaus kann es kompositorische und topographische Daten über sein integriertes Energy Dispersive Spectrometer sammeln. Das Gerät verfügt über eine verbesserte Optik für niedrige kV-Anwendungen und bietet eine hervorragende Bildqualität für eine Vielzahl von Bereichen und Anwendungen. Für die Materialanalyse enthält TENCOR 8100 XP eine Kombination aus rückgestreuten Elektronen und Sekundärelektronen, die eine genaue Darstellung der elementaren Zusammensetzung ergeben. KLA/TENCOR 8100 XP wurde entwickelt, um die Produktivität im Qualitätskontrollprozess zu erhöhen und Informationen über Fehlerlage, Zusammensetzung, Größe, Form und Geometrie bereitzustellen. Es bietet eine einfach zu bedienende Schnittstelle, um Fehler schnell zu erfassen und zu analysieren, um sicherzustellen, dass Produktforschung und Fertigungsprozesse das höchste Qualitätsniveau erreichen. TENCOR 8100XP ist einfach zu bedienen. Es ist mit mehreren Automatisierungsfunktionen ausgestattet, um Daten schnell zu sammeln und eine aussagekräftige Analyse ohne zeitaufwändige manuelle Anpassungen bereitzustellen. Darüber hinaus können erweiterte Bildanalyse-Software verwendet werden, um Daten über mehrere Proben hinweg zu vergleichen, um die Entwicklung und das Wachstum einzelner Fehler zu verfolgen. Für die grundlegende Materialanalyse kann KLA 8100 XP elementare Linienscans und Spotanalysen erzeugen. Diese Maschine kann auch übergeordnete Anwendungen mit automatisierter Driftkorrektur und automatisierten Stufen durchführen. 8100XP ist mit fortschrittlicher Filtrationsfähigkeit integriert, so dass es eine hohe Abtaststabilität für Proben hat, die besonders empfindlich gegen Strahlung sind. Das integrierte Vakuumwerkzeug wurde entwickelt, um eine saubere Umgebung für eine ausgezeichnete bildgebende Qualität ohne Probenkontamination oder Materialaufbau auf der Optik zu bieten. Die Integration von 8100 XP in KLA-Systeme ermöglicht eine fortlaufende Analyse von Komponenten und Reparaturen, so dass die Produktivität über längere Zeiträume optimiert werden kann. Dieses Asset eignet sich ideal für Halbleiterfehleranalysen aufgrund seiner erweiterten Bildgebungsfunktionen, verbesserter Auflösung, automatisierter Funktionen und benutzerfreundlicher Schnittstelle.