Gebraucht KLA / TENCOR 8100XP #9389496 zu verkaufen

KLA/TENCOR 8100XP ist ein weit verbreitetes Rasterelektronenmikroskop. Es wurde entwickelt, um zuverlässige und genaue Bilder von Oberflächenmikrostrukturen mit hoher räumlicher Auflösung bereitzustellen. Es ist ein vielseitiges Instrument, das sich für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialwissenschaft eignet. Im Kern ist KLA 8100XP ein Elektronenmikroskop. Es verwendet eine Elektronenkanone, um Elektronen zu erzeugen, die mit elektrostatischen Linsen in einen Elektronenstrahl fokussiert werden. Eine Probe wird in den Strahlengang gelegt und die Elektronen interagieren mit den Atomen der Probe und erzeugen Signale, die von den elektronischen Systemen des Mikroskops detektiert werden können. Diese Informationen werden dann verwendet, um ein Bild der Oberfläche der Probe zu erstellen. TENCOR 8100 XP verfügt über eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, um die Bildqualität zu verbessern und die Analysezeit zu reduzieren. Sein hochauflösendes digitales Bildgebungssystem sorgt für Bilder mit hohem Kontrast und guter Schärfentiefe. Dies ermöglicht eine zuverlässige und genaue Mikrostrukturanalyse der Oberfläche. Das Instrument verfügt auch über eine automatisierte Bühne, so dass es schnell große Proben ohne Verlust der Auflösung scannen. KLA 8100 XP enthält auch erweiterte Softwarefunktionen für die Bildverarbeitung und -analyse. Es ist in der Lage, 3D-Rekonstruktion und Datenanalyse aus einer Vielzahl von Quellen, wie SEM-Bilder, TEM-Bilder und andere Datensätze. Mit dieser Funktion können kontrastreiche Bilder zur weiteren Analyse erzeugt werden. Aufgrund seiner Vielseitigkeit ist KLA/TENCOR 8100 XP eine ideale Wahl für Forschungslabore und Analyseeinrichtungen. Mit ihm können Wissenschaftler Oberflächenmikrostrukturen mit großer Genauigkeit und Präzision analysieren. Darüber hinaus ermöglichen die erweiterten Softwarefunktionen eine schnelle und effiziente Datenverarbeitung und -analyse. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für jedes Labor, das die neueste Technologie des Rasterelektronenmikroskops nutzen möchte.