Gebraucht KLA / TENCOR 8100XP #9410217 zu verkaufen

KLA/TENCOR 8100XP ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Messung der Oberflächenmorphologie, Zusammensetzung und elektrischen Eigenschaften von Materialien. Es kommt mit einer Vielzahl von Funktionen und hilfreichen Tools, die die Probenanalyse zuverlässiger, effizienter und wiederholbarer machen. KLA 8100XP ist in der Lage, unter Hochvakuumbedingungen zu arbeiten und eignet sich somit perfekt für die Oberflächenanalyse, Bildgebung und Messung elektrischer Eigenschaften. Das SEM ist auch mit einem MINT-Detektor für die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) ausgestattet, um die elementare Zusammensetzung in Proben zu identifizieren. Ein automatisiertes Mikroskopiesystem und ein invertiertes optisches Mikroskop tragen dazu bei, die Scanzeiten zu minimieren und die Genauigkeit zu erhöhen. TENCOR 8100 XP verfügt auch über mehrere fortschrittliche Bildgebungs- und Positionsrückkopplungstechnologien, einschließlich optischer Navigation für hochdefinierte Einzelpunktnavigation, Autofokus, um den Probenfokus mit dem Bild auszurichten, und die Fähigkeit, transparente Dünnschichtmaterialien abzubilden. 8100 XP verfügt außerdem über einen automatisierten Stepper zum Wechseln von Proben und eine automatisierte Kammerdruckregelung für erhöhte Kammerstabilität. Das Mikroskop hat eine Auflösung von bis zu 1 nm und ist in der Lage, Merkmale mit Submikron-Genauigkeit zu erkennen. 8100XP Serie bietet auch ein optionales Softwarepaket namens ProQuant II, das bei der Messung von Oberflächentopographie, Profil und elektrischen Parametern hilft. KLA 8100 XP SEM ist für eine breite Palette von Materialforschung konzipiert, und seine erweiterten Funktionen können präzise und zuverlässige Ergebnisse liefern. Mit seinen überlegenen bildgebenden Fähigkeiten können Anwender zuverlässige und genaue Messungen der Oberflächenmerkmale und Eigenschaften einer Vielzahl von Materialien schneller und kostengünstiger als je zuvor durchführen.