Gebraucht KLA / TENCOR 8100XPR #293605761 zu verkaufen

KLA/TENCOR 8100XPR ist ein Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende bildgebende und spektroskopische Anwendungen. Dieses Mikroskop projiziert einen Elektronenstrahl auf die Oberfläche der Probe, wodurch Sekundärelektronen, Röntgenstrahlen und rückgestreute Elektronen emittiert werden. Diese abgegebenen Signale werden dann detektiert und zur Abbildung der Oberfläche verwendet. Dieses SEM ist in der Lage, Bilder mit Auflösungen von bis zu 1 nm zu erzeugen, so dass es für die Analyse von nanoskaligen Materialien geeignet ist. KLA 8100XPR ist mit einer hochenergetischen Primärelektronenpistole ausgestattet, die es dem Anwender ermöglicht, mit einer breiten Palette von Probenmaterialien zu arbeiten. Diese Pistole erzeugt einen Strahl von bis zu 1500V, der auf eine Mikroskoppunktauflösung von 4 nm eingestellt werden kann. Die Pistole bietet auch eine außergewöhnlich kurze Belichtungszeit und Fernstrahlstrom. Dies ermöglicht es dem Benutzer, Bilder mit niedriger Drift und mit extrem hohen Vergrößerungen zu erfassen. TENCOR 8100XP-R ist auch mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, einschließlich eines Sekundärelektronendetektors, eines rückgestreuten Elektronendetektors, eines Röntgendetektors und eines Ladedetektors. Diese Detektoren ermöglichen es dem Mikroskop, Proben auf leitfähige, isolierende und halbleitende Materialien zu analysieren. Der Röntgendetektor eignet sich besonders zur Analyse der elementaren Zusammensetzung der Probe. KLA 8100XP-R bietet auch eine Reihe von automatisierten Funktionen für die Bildgebung, wie automatisierte Stigmatisierung und Astigmatismus-Korrektur, automatisierte Bildaufnahme und -nähte und automatisierte Mustererkennung, um Funktionen in den Bildern zu erkennen. Zum Mikroskop gehört auch ein integriertes ChromaJet-Softwarepaket, mit dem die Farbe von Probenoberflächen analysiert und gemessen werden kann. 8100XP-R ist ein leistungsstarkes und vielseitiges SEM ideal für die Materialanalyse und Charakterisierung. Es bietet hochauflösende Bildgebung, hohe Mikroskoppunktauflösung, automatisierte Bildgebung und Merkmalserkennung sowie eine Reihe von Detektoren zur Analyse der elementaren Zusammensetzung der Probe. Diese Kombination von Funktionen macht 8100XPR zu einer ausgezeichneten Wahl für Forscher, die ein Desktop-SEM für die Analyse von nanoskaligen Materialien benötigen.