Gebraucht KLA / TENCOR 8100XPS #293700569 zu verkaufen

ID: 293700569
Weinlese: 2001
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) 2001 vintage.
KLA/TENCOR 8100XPS ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich ideal für eine Vielzahl von hochauflösenden Bildgebungs-, Analyse- und Musteranwendungen eignet. Es ist mit einer extrem hohen Auflösung und unübertroffener Leistung integriert, die ein Maß an Detailtreue und Genauigkeit bei Bildgebungs- und Analyseergebnissen bietet. Dieses SEM ist für Anwendungen konzipiert, die eine Kombination aus hoher Empfindlichkeit für die bildgebende und quantitative Analyse erfordern. Dieses Gerät hat eine Spotgröße von 5 nm und eine Spotauflösung von 0,5 nm, was eine höhere Detektion von Elektronen ermöglicht, um eine höhere Genauigkeit und Präzision bei der Bildgebung und Analyseergebnissen zu erreichen. Die sekundären und rückgestreuten Elektronendetektoren der UCK- 8100XP-S bieten maximale Flexibilität für alle Arten von Probenanalysen mit optimalen Signal-Rausch-Verhältnissen. Darüber hinaus ermöglicht das volldigitale Scansystem eine präzise und schnelle Bildgebung und Analyse. TENCOR 8100 XPS verfügt über ein einzigartiges Hardware- und Softwarepaket. Sein einzigartiges Design umfasst erweiterte Funktionen wie eine Vor-Ort-Datenerfassungseinheit, die es dem Benutzer ermöglicht, Bilder schnell und einfach zu erfassen und zu speichern, ohne dass eine externe Datenerfassungsmaschine erforderlich ist. Darüber hinaus ermöglichen seine hochmodernen computergestützten Bildanalysefunktionen die genaue Analyse einer Vielzahl von Mustereigenschaften. 8100XPS verfügt auch über ein automatisiertes Inspektionswerkzeug zur Inline-Prozesssteuerung. Dieses Asset bietet die Möglichkeit, Fehler und Mängel in Proben schnell zu erkennen. Darüber hinaus bietet es auch die Möglichkeit, Fehler für eine weitere detaillierte Analyse zu isolieren. Dies hilft, Kosten im Zusammenhang mit umfangreichen manuellen Probenahmen und Analysen zu reduzieren. KLA 8100XPS verfügt über ein fortschrittliches Softwaremodell, das eine einfache Navigation und Bedienung ohne umfangreiche manuelle Programmierung ermöglicht. Die Software bietet auch eine intuitive Benutzeroberfläche und seine erweiterten Funktionen umfassen 3D-Bildgebung und -analyse sowie Finite-Elemente-Modellierung. Die Software beinhaltet auch ein einfach zu bedienendes Bedienfeld zur systematischen Probenvorbereitung und -steuerung. Insgesamt ist KLA/TENCOR 8100XP-S ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop. Die Kombination aus ultrahoher Auflösung, überlegener Empfindlichkeit und automatisierter Inspektionsausrüstung macht es zu einem der leistungsfähigsten und zuverlässigsten SEM-Systeme, die heute auf dem Markt erhältlich sind. Diese Technologie bietet beispiellose Auflösung, Genauigkeit und Geschwindigkeit für hochauflösende Bildgebung und Analyse, was sie für eine Vielzahl von Anwendungen ideal macht.
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