Gebraucht KLA / TENCOR 8250 XPT #293820567 zu verkaufen

ID: 293820567
Wafergröße: 4"-6"
Weinlese: 2001
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6" Wafer handler Robot (3) Loaders Pre-aligner SEMI Equipment Communications Standard / Generic Equipment Model (SECS/GEM) interface Vacuum system 2001 vintage.
KLA/TENCOR 8250 XPT ist ein Rasterelektronenmikroskop der nächsten Generation (SEM), das zur atomaren Charakterisierung von Materialien und Geräten für Forschung und Entwicklung in vielen Bereichen entwickelt wurde, einschließlich der Herstellung von Halbleiterbauelementen, der Nanotechnologie und der Werkstoffmesstechnik. KLA 8250 XPT ist mit einer Vakuumanlage gebaut, die es dem Mikroskop ermöglicht, bis auf 0,1 Pa Druck zu arbeiten, was die höchste Auflösung der Bildgebung ermöglicht. Es ist auch mit einer vollautomatischen Probenvorbereitungskammer und einem schnellen Probenaustauschsystem ausgestattet, die es ermöglichen, Proben schnell und genau für die Analyse vorzubereiten. TENCOR 8250XPT verwendet eine 5-Achsen-Stufe mit einem mehrachsigen Goniometer und einer sekundären planaren Stufe, die es ermöglichen, verschiedene Arten von Proben zu inspizieren, ohne die Erkennung kleiner Defekte zu behindern. Diese Stufe wird mit einem hochgenauen Autofokussystem kombiniert, das vier unabhängige Bildsensoren verwendet, um das optimale Fokussierungsniveau für jede Probe genau zu finden. Das Mikroskop ist mit einer Reihe von Elektronenkanonen-Konfigurationen ausgestattet, von einer Elektronenkanone mit variabler Punktgröße bis zu einer Pistole mit variabler Kammerachse. Dadurch wird sichergestellt, dass für jede bildgebende Anwendung die entsprechende Strahlfleckengröße und -energie verwendet wird. Darüber hinaus nutzt KLA 8250XPT verbesserte Szintillatorkonfigurationen, um hochauflösende Bilder sowohl im Niedrig- als auch im Fernstrahl-Strommodus zu erzeugen. 8250 XPT hat eine steuerende Softwareplattform namens Eureka. Diese Software bietet erweiterte Funktionen wie integrierte automatische Fehlerüberprüfung, Overlay, Querschnittsfeldanalyse, Elektronenrückstreuung, Mustererkennung und automatisierte Musterausrichtung - all dies ermöglicht es dem Benutzer, die Datenerfassung zu maximieren und die Produktivität und Genauigkeit zu verbessern. Darüber hinaus verfügt TENCOR 8250 XPT über eine integrierte Benutzerkonsole, die eine intuitive Benutzeroberfläche bietet, mit der Bediener Rasterelektronenbilder erfassen und analysieren können. Auf diese Weise können Anwender schnell und einfach auf alle Funktionen des Mikroskops zugreifen und ihnen verschiedene Datenverarbeitungs- und Analysefunktionen zur Verfügung stellen. Insgesamt ist KLA/TENCOR 8250XPT ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop, das überlegene Leistung und Präzision für die Charakterisierung von Halbleiterbauelementen und -materialien bietet. Die Kombination aus einer breiten Palette von Elektronenkanonen und Szintillatorkonfigurationen, einem flexiblen Bühnensystem und einer umfassenden Benutzeroberfläche machen 8250XPT zu einem leistungsstarken und vielseitigen Werkzeug für Forschung und Entwicklung in vielen Bereichen.
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