Gebraucht KLA / TENCOR EV200 #9223844 zu verkaufen

KLA/TENCOR EV200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Materialanalyse eingesetzt wird. Es wurde entwickelt, um ein sehr detailliertes, dreidimensionales Bild der Probe bereitzustellen, und seine Merkmale ermöglichen es Benutzern, eine Vielzahl von Daten von Proben zu erhalten. Die fortschrittliche Technologie von KLA EV200 ermöglicht einen präzisen Betrieb bei einer Vielzahl von Primär- und Sekundärmikroskopvergrößerungen bis zu 120.000x. Dies ermöglicht es Benutzern, extrem kleine Merkmale, wie einzelne Atome, mit hoher Klarheit zu beobachten. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die hohe Stabilität und Gleichmäßigkeit bei der Bildgebung liefert. Dieses FEG erzeugt einen Elektronenstrahl, der auf die Probe fokussiert werden kann, der dann abgetastet und ein Bild erzeugt wird. Darüber hinaus verfügt TENCOR EV200 über eine große Kammer, so dass Proben eine Vielzahl von Geometrien haben. Dazu gehört das Scannen kontrastarmer und weitflächiger Proben wie Beschichtungen, Folien und organische Materialien. Ferner ist die Kammer zur Aufnahme einer Probe in einer Umgebung geringer mechanischer Schwingungen und Feuchtigkeit ausgelegt, wobei eine Analyse mit variablem Druck möglich ist. EV200 verfügt auch über eine integrierte Image Analysis Software Suite, die es Anwendern ermöglicht, Proben mit hohen Geschwindigkeiten mit automatisierten Tools zu analysieren. Dazu gehören Funktionen wie automatisierte KE-Erkennung, Mehrschichtklassifizierung und 3D-Modellierungsfunktionen. Darüber hinaus wurde diese Software entwickelt, um eine präzise Analyse von Bildern durch kleinere Änderungen zu ermöglichen. Darüber hinaus verfügt KLA/TENCOR EV200 über eine Reihe integrierter Detektoren, die es dem Benutzer ermöglichen, Daten aus mehreren verschiedenen Winkeln zu erfassen. Die erste ist der Secondary Electron Detector (SE), der ein hochauflösendes Bild erzeugt, das zur Auswertung von Oberflächentopologie und Mikrostrukturen verwendet werden kann. Darüber hinaus wird der Signal Electron Detector (BSE) mittels Elektronenrückstreuung bestimmt und liefert wertvolle Daten über Zusammensetzung, Dicke, Korn und Textur. Nicht zuletzt wird der Fast Electron Detector (FE-SEM) verwendet, um Elektronensignale von Objekten mit hoher Geschwindigkeit und Auflösung zu erfassen. Abschließend ist KLA EV200 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine schnelle, effiziente und detaillierte Abbildung mikroskopischer Proben ermöglicht. Seine leistungsstarken Funktionen und integrierten Detektoren ermöglichen es Forschern, hochpräzise Daten zu gewinnen, während die integrierte Bildanalyse-Software eine schnelle Analyse von Proben ermöglicht.