Gebraucht LEO 430 #185415 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop LEO 430 (SEM) ist ein leistungsstarkes Gerät, das zur tiefgreifenden Analyse der mikroskopischen Struktur verschiedener organischer und anorganischer Materialien verwendet wird. Es erzeugt hochauflösende Bilder mit einem Vergrößerungsbereich von bis zu 10.000 x und einem Arbeitsabstand von 0,5-10 mm. 430 SEM ist mit einem Everhart-Thornley-Detektor ausgestattet, der schnelle und zuverlässige Ergebnisse liefert. Es ist in der Lage, die Topographie, Zusammensetzung, visuelle Morphologie und Probengröße der Probe zu erkennen. LEO 430 SEM arbeitet nach dem Prinzip der sekundären Elektronenbilddetektion. Dieses Prinzip beruht auf der Abtastung eines dünnen, fokussierten Strahls von schnellen Elektronen über die Probenoberfläche, was wiederum die Emission von Sekundärelektronen von der Probenoberfläche bewirkt. Diese Sekundärelektronen werden dann vom Everhart-Thornley-Detektor detektiert, der ein Bild der Oberfläche sehr detailliert erzeugt. Die Auflösung der von 430 erzeugten Bilder ist signifikant höher als bei anderen mikroskopischen Mitteln. LEO 430 ist auch mit einem Hochvakuumsystem ausgestattet, das für den Betrieb bei sehr hohen Vergrößerungen notwendig ist. Dieses System ist in der Lage, einen Druck von 2 x 10e-7 Torr zu erreichen. Dadurch wird sichergestellt, dass der Strahl mit minimaler Verzerrung in die Probenoberfläche eindringen kann und somit hochauflösende Bilder erzeugt. Darüber hinaus bietet das Vakuumsystem auch einen Staub- und Partikelschutz bei minimaler Wartung. 430 ist mit einem vakuumbeschichteten, einfach geneigten Probenhalter ausgestattet, der eine Weitwinkelansicht der Probe ermöglicht, die die Betrachtung verschiedener Facetten der Probenoberfläche ermöglicht. Dies wird durch die Fähigkeit des SEM, den Probenhalter über einen weiten Bereich von bis zu 60 Grad zu kippen, weiter verbessert. Der Probenhalter ist außerdem mit einer X- und Y-Probenübersetzungsstufe ausgestattet, die eine präzise Positionierbarkeit zur detaillierten Erfassung der verschiedenen Merkmale auf der Probenoberfläche bietet. LEO 430 bietet ein leistungsfähiges und flexibles Werkzeug zur Analyse der Oberflächenmikrostruktur von organischen und anorganischen Materialien. Die integrierten Komponenten und Funktionen machen es zu einem der vielseitigsten SEMs auf dem Markt für die Untersuchung von Mikrostrukturen und topographischen Merkmalen.