Gebraucht LEO 435VP #9079999 zu verkaufen

LEO 435VP Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungs-Bildgebungsgerät, das maximale Flexibilität mit überlegener optischer Leistung und einem umfangreichen Anwendungsspektrum kombiniert. Das kompakte Design von LEO 435 VP bietet die ideale Balance aus Leistung und Erschwinglichkeit für viele verschiedene Anwendungen. 435VP verfügt über ein hochauflösendes wellenfrontkorrigiertes Mehrtankoptisches System, das auch bei niedrigen KVs und erweiterten Tiefenschärfeeinstellungen eine erstklassige Bildgebung ermöglicht. Die Optik verfügt auch über einen motorisierten Revolver, um eine variable Stigmation zu ermöglichen, eine Variable. Darüber hinaus ermöglicht dieses Modell einen längeren Arbeitsabstand und verfügt über eine ausrichtungsfreie Prozedur, die eine schnelle Ausrichtung ermöglicht. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine digitale Abbildungseinheit mit einer Kaltfeld-Emissionspistole. Diese Maschine ermöglicht sowohl kontinuierliche Top-Down-Bildgebung und automatisches Schalten, als auch erweiterte Bildnähte und Bildverfolgung. 435 VP verwerten niedrige Stromspannung, Elektronbildaufbereitung, eine fortgeschrittene Technologie scannend, die dynamische Stichprobenerhebung während jedes Scans berücksichtigt. Diese Fähigkeit ermöglicht eine höhere Auflösung bei geringer Vergrößerung, was zu einem präziseren, atomar korrekten Bild führt. Der Rasterelektronendetektor ist ebenfalls auf einem ausrichtbaren CAE montiert, wodurch die Flexibilität für eine Vielzahl von Probenorientierungen erhöht wird. Diese Funktion ermöglicht auch das Nähen von Bildern, was die Bildqualität verbessert. Neben den erweiterten bildgebenden Funktionen verfügt LEO 435VP auch über eine Vielzahl von Umweltkontrollen. Dazu gehören ein einstellbares Luftreinigungswerkzeug mit integrierter Staubfiltration, eine Schwingungsisolationsanlage sowie einstellbare Temperatur-, Druck- und Feuchtigkeitseinstellungen. Dieses Array von Umgebungseinstellungen ermöglicht es dem Benutzer, die Bildgebungsleistung in einer Vielzahl von verschiedenen Betriebsbedingungen zu maximieren. Insgesamt ist das LEO 435 VP Scanning Electron Microscope ein überlegenes Abbildungsmodell, das eine hohe Leistung kombiniert mit maximaler Flexibilität und robusten Umweltkontrollen bietet. Es ist ideal für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Anwendungen, von der Materialwissenschaft bis zur Nanotechnologie. Mit seiner hervorragenden optischen Leistung, seiner umweltveränderlichen und schweren Probenahmefunktionen ist 435VP eine ideale Wahl für diejenigen, die eine spezielle SEM-Ausrüstung suchen.