Gebraucht LEO / ZEISS 1430VP #9259807 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1430VP ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die Bildgebung und Analyse kleiner dreidimensionaler Proben entwickelt wurde. Es bietet extrem hohe Auflösungsfunktionen sowohl in bildgebenden als auch in analytischen Messungen. Es eignet sich zur detaillierten Analyse sowohl organischer als auch anorganischer Materialien in Niedervakuum- und Hochvakuum-Abbildungskammern. Die Elektronenkanone von LEO 1430VP verwendet eine Feldemissionskanone, die einen Elektronenstrahl mit hoher Energieauflösung erzeugt. Diese Pistole erzeugt auch eine Abblendlicht Astigmatismus macht es ideal für die Bildgebung und kleine Flächenexperimente. Die Pistole kann entweder in einem Niederspannungsmodus für Bildgebung und Beobachtungen betrieben werden, oder in einem Hochspannungsmodus für Analysen, wie energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX), wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDS). ZEISS 1430VP ist zudem mit einem Kohlenstofffilament für die In-situ/Temperatur-Stufe ausgestattet, das eine Beobachtung und Analyse der Materialeigenschaften bei erhöhten Temperaturen ermöglicht. 1430VP bietet eine Vielzahl von Abbildungsmodi, die sekundäre Elektronenbildgebung (SEI), rückgestreute Elektronenbildgebung (BSE) und Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM) umfassen können. Die rückgestreuten Elektronenbilder werden entweder in einem geneigten Winkel oder nominell senkrecht zur Probenebene gesammelt. Die SEI-Bildgebung kann mit der Stage-Tilt-Funktion weiter optimiert werden. Die Probe wird mit einer Hochgeschwindigkeits-Probenphase gescannt, während die Echtzeit-Bildgebung es Benutzern ermöglicht, Änderungen in den Beispieleigenschaften zu verfolgen. LEO/ZEISS 1430VP ist auch mit einer Reihe von Detektoren für die Elementaranalyse ausgestattet, einschließlich EDX, WDS und energiefilterte Transmissionselektronenmikroskopie (EFTEM). EDX wird verwendet, um Elemente in einer Probe mit einer Empfindlichkeit von Spurenniveaus bis zu mehreren Massenprozent zu erkennen. WDS dient zur Detektion von Lichtelementen mit einer Empfindlichkeit von wenigen ppm. EFTEM ist ideal für die Beobachtung sehr feiner struktureller oder kompositorischer Details in einer Probe. Die Analysefunktionen von LEO 1430VP können durch eine Reihe von Softwarepaketen erweitert werden. Dazu gehören ZEISS 1430VP Visualization Tools, 1430VP Data Analysis Software, LEO/ZEISS 1430VP Bildanalyse und 3D Rekonstruktionssoftware. Alle diese Softwarepakete wurden entwickelt, um die Datenerfassung, -verarbeitung und -analyse der SEM-Bilder zu optimieren. Insgesamt ist LEO 1430VP ein fortschrittliches, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, ideal für die Bildgebung und Analyse dreidimensionaler Proben. Seine fortschrittliche Optik, Bildverarbeitungsmodi und analytischen Detektoren bieten eine hervorragende Auflösung, während seine automatisierten Softwarepakete die Datenerfassung und -verarbeitung für hervorragende Ergebnisse optimieren.