Gebraucht LEO / ZEISS 1440VP #9255473 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1440VP Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein modernes Mikroskopiewerkzeug für die atomare Bildgebung. Seine erweiterten Fähigkeiten ermöglichen eine hochauflösende Abbildung durch seinen Niederspannungs-Elektronenstrahl. Damit eignet es sich gut für sensible Anwendungen, die eine extrem hochauflösende Bildgebung erfordern, wie die Fehleranalyse von mikroelektronischen Bauteilen. LEO 1440VP SEM ist sowohl in 1kV als auch in 5kV Varianten erhältlich und ermöglicht eine maximale Auflösung von 2 nm. Es verfügt auch über ein In-Objektiv-Detektor-Design, das Hochgeschwindigkeitsbilder mit geringem Rauschen ermöglicht. Dieses Design bietet auch ein außergewöhnlich breites Sichtfeld, das die Abbildung großer Proben mit minimaler Verzerrung ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über ein Transmissiometer zur automatischen Ausrichtung des Elektronenstrahls auf den Proben- oder Rückstreudetektor. Zu den weiteren Merkmalen des ZEISS 1440VP Scanning Electron Microscope gehört ein Hochgeschwindigkeits-Bildgebungsmodus, mit dem Benutzer Bilder beschleunigt anzeigen und analysieren können. Diese Funktion ermöglicht es auch, mehrere Bilder mit sehr kurzen Belichtungen unter Beibehaltung großer Auflösung zu erfassen. Das Mikroskop unterstützt auch eine breite Palette von Detektoren, so dass es verschiedene Abbildungsmodi, wie Energiefilter Bildgebung und elementare Verteilung Mapping erfassen. 1440VP Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges bildgebendes Werkzeug, das hochauflösende Bilder mit außergewöhnlicher Empfindlichkeit erzeugen kann. Seine breite Palette von Funktionen machen es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, wie Fehleranalyse, Elementverteilung Mapping, und die Analyse der Mikrostruktur von empfindlichen Materialien und Komponenten. Dieses fortschrittliche und robuste SEM ermöglicht die Analyse komplexer Mikrostrukturen und ist eine gute Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure in Bereichen wie Elektronik, Materialwissenschaft und Nanotechnologie.