Gebraucht LEO / ZEISS 1450 #9161452 zu verkaufen
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ID: 9161452
Scanning electron microscope (SEM)
Electron source: Tungsten
Resolution:
2.5nm at 30kV (LaB6)
3.5nm @30kV (W)
5.5nm @30kV (BSD-VP mode)
Includes:
EDS
EBSD
Magnification range: 9x to 900000x
Probe current
1pA to 1uA Optibeam controlled
Accelerating voltage: 200 V to 30kV
Variable pressure: 1Pa to 400Pa
Detectors: Everhart thornley with VPSE / VPSE or BSD
Chamber: 300 mm x 270 mm x 224 mm (H)
5-Axis motorized stage:
X-Travel: 100 mm
Y-Travel: 125 mm
Z-Travel: 60 mm (35 mm motorized)
Rotation: 360° continuous
Tilt: 0° to 90°
Image processor resolution: Up to 3072 x 2304
Image processing:
Pixel averaging
Continuous averaging
Frame integration
Oil diffusion pump main vacuum
Roughing pump
~1999 vintage.
LEO/ZEISS 1450 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochauflösendes bildgebendes Werkzeug, das Elektronen verwendet, um detaillierte Bilder von Proben verschiedener Größen und Materialien zu erstellen. LEO 1450 SEM arbeitet durch Erzeugung eines fokussierten Elektronenstrahls, der über die Probe mittels eines Ablenksystems abgetastet wird. Durch Steuerung des Einfallswinkels des Strahls kann ein dreidimensionales Bild der Probe erzeugt werden. Da die Elektronen für jedes Element spezifisch sind, können elementare Karten erstellt werden, die die Konzentrationen jedes Elements in der Probe zeigen. ZEISS 1450 SEM ist mit zwei Elektronenquellen ausgestattet, die mit Energien von bis zu 10kV bzw. 30kV arbeiten. Auf diese Weise können verschiedenste Materialien abgebildet werden, darunter Isolatoren und leitfähige Materialien. Auch die Auflösung der von der Maschine erzeugten Bilder ist sehr hoch und erreicht eine seitliche Auflösung von bis zu 0,5 nm und eine axiale Auflösung von bis zu 0,25 nm. Darüber hinaus ist 1450 SEM mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, die es ermöglichen, Signale von der Probe zu empfangen. Dazu gehören ein Faraday-Becher zur Messung des Strahlstroms, ein Szintillationszähler zur Detektion niedriger Energie-Röntgenstrahlen aus der Probe, ein energiedispersiver Spektroskopie (EDS) -Detektor zur Abbildung der elementaren Zusammensetzung der Probe und ein rückgestreuter Elektronendetektor. LEO/ZEISS 1450 SEM ist auch in der Lage, quantitative Analyse, die die Messung von Parametern wie Korngröße, Volumen, Porosität, Dicke der Folien, Oberfläche und Oberflächenstruktur umfasst. Es ist auch in der Lage, spektroskopische Analysen durchzuführen, wodurch eine Vielzahl von Eigenschaften wie Zusammensetzung, optische Konstanten, Impedanz, Dielektrizitätskonstanten und Magnetismus gemessen werden können. Abschließend ist LEO 1450 SEM ein leistungsfähiges Werkzeug, das für die Analyse und Bildgebung von Proben mit einer breiten Palette von Materialien und Größen verwendet wird. Es bietet hochauflösende Bilder, quantitative Analysen und spektroskopische Analysen und ist damit ein unschätzbares Werkzeug für Forschung und industrielle Anwendungen.
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