Gebraucht LEO / ZEISS 1450EP #9284365 zu verkaufen

ID: 9284365
Scanning Electron Microscope (SEM) Hard Disk Drive (HDD) removed.
LEO/ZEISS 1450EP ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Abbildung von Proben für materialwissenschaftliche, biologische und medizinische Anwendungen ermöglicht. Das Instrument erzeugt mit einer elektrostatischen Säule einen Elektronenstrahl, der auf die Probenoberfläche fokussiert ist. Die Elektronen interagieren mit der Probe, um Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und Röntgenstrahlen zu erzeugen. Diese Signale können detektiert werden, um entweder zweidimensionale Bilder mit niedriger oder mittlerer Auflösung oder dreidimensionale Bilder mit hoher Auflösung zu erzeugen. LEO 1450EP verfügt über die Elektronenoptik LEO 'In-Linse' mit modernster Detektions- und Bildgebungstechnologie, einem hocheffizienten Energiefilter und einer In-Linsen-Magnetlinse. Das In-Objektiv-Design reduziert Aberration und erhöht die Auflösungsleistung. Die In-Linsen-Bildgebung reduziert den Platzbedarf für die gesamte Baugruppe, während ein 'Lichtfeld' -Kollektor die Größe der Hochspannungs-Elektronenkanone weiter minimiert. ZEISS 1450EP ist mit einem integrierten Abbildungssystem, einem Optikmodul und einem digitalen Bildprozessor ausgestattet, die zusammen eine Vielzahl von Bildkontrastoptimierungen und Anzeigefähigkeiten ermöglichen. Das Optikmodul umfasst einen Kontrastreduktionsfilter, einen Extra-Hochspannungsdetektor und einen Elektronenstrahl-Profiler für präziseres kontrastgesteuertes Scannen. Der digitale Bildprozessor ist in der Lage, eine breite Palette von Bildern einschließlich BSE, SE, EBSD und CL-Bilder zu erfassen. 1450EP hat ein maximales Scanfeld von 20mm und eine minimale Scanfläche von 0,006mm. Der Spannungsbereich der Elektronenoptik beträgt 0,5 bis 30kV. Das Instrument ist mit einer automatisierten Probenstufe (X, Y, R, T) ausgestattet und die Probe kann präzise manipuliert werden, um sie auf dem Elektronenstrahl zu zentrieren. Automatisierte Ausrichtungen sind mit der mitgelieferten „Smart Alignment“ -Software möglich und bieten eine außergewöhnliche Genauigkeit für komplexe Probenmanipulationen. LEO/ZEISS 1450EP hat einen geringen Platzbedarf und benötigt weniger Platzbedarf als herkömmliche SEMs und ist ein ideales Werkzeug für Forschungs- und Entwicklungsanwendungen. Mit seinen intuitiven Bedienelementen erhalten Anwender schnell hochauflösende Bilder, und der automatisierte Probenmanipulator ermöglicht eine präzise Probenausrichtung mit Scan- und Bildgebungsfunktionen. LEO 1450EP ist die perfekte Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen in der Bildgebung und Materialanalyse.
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