Gebraucht LEO / ZEISS 1450VP #293597117 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1450VP Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches, anspruchsvolles Laborgerät, das zur Vergrößerung und Inspektion von Elektronenbildern im nanoskaligen Bereich entwickelt wurde. Als Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM) ermöglicht es Benutzern, sehr hochauflösende Bilder von Proben zu erzeugen, was die Beobachtung von strukturellen Merkmalen im Nanometermaßstab ermöglicht. LEO 1450VP ist ein „Feldemission“ SEM, was bedeutet, dass es eine Elektronenquelle vom Filamenttyp anstelle von adsorbierten Materialien verwendet, was eine verbesserte Detektorantwort, höhere Auflösung und ein stabileres Bildgebungssystem ermöglicht. Das SEM enthält einen Satz von Objektiven und Linsen, durch die Elektronen beim Scannen der Probe hindurchgehen, wodurch ein Bild erzeugt wird, das vergrößert und in der Auflösung verbessert wird. Auf diese Weise können Forscher winzige Details an der Probe beobachten, wie atomare Positionen und chemische Bindungen. Die Elektronenquelle ist in der Lage, bildgebende Auflösungen bis 0,75 nm zu erzeugen, und das Mikroskop enthält auch eine „sekundäre“ Spalte, die noch höhere Auflösungen von 0,2 nm ermöglicht. Dies kann ein klares Bild auch der kleinsten Merkmale, wie einzelne Atome und Moleküle. Das SEM hat auch die Fähigkeit, rückgestreute und sekundäre Elektronen zu erwerben, wodurch Forscher weiteren Zugang zu Merkmalen erhalten, die die Primärelektronen möglicherweise nicht sehen können. Neben der Auflösung bietet ZEISS 1450VP auch drei Betriebsarten der Nieder- und Hochspannungsscannung und der Wolframfilamentmikroskopie. Diese Modi können sowohl hochwertige Bilder als auch große Karten einer Probe und ihrer chemischen Zusammensetzung erfassen sowie Elektronentransporteigenschaften zum Zwecke der Prüfung oder Auswertung eines bestimmten Systems simulieren. Das SEM verfügt auch über einen proprietären „Brief Scan“ -Modus, der schnell zu weiträumigen Ergebnissen gelangen kann, ohne dass ein langwieriges, längeres Rangieren erforderlich ist. Um eine möglichst hohe Genauigkeit zu gewährleisten, umfasst 1450VP auch eine Reihe fortschrittlicher Softwareprogramme, die alle Funktionen des Mikroskops steuern können. Die Software verfügt über eine intuitive Schnellscanoberfläche, mit der Benutzer schnell eine interessante Region erstellen und zurücksetzen und innerhalb von Sekunden mit der Bildverarbeitung beginnen können. Darüber hinaus ermöglichen integrierte Ausrichtungsfunktionen es Benutzern, physikalische Abmessungen genau zu messen und die Genauigkeit ihrer Ergebnisse schnell und einfach zu beurteilen. Insgesamt ist das LEO/ZEISS 1450VP Rasterelektronenmikroskop ein unglaublich leistungsfähiges und wertvolles Werkzeug für jedes Forschungslabor. Seine Verwendung kann nanoskalige Beobachtung und Bildgebung ermöglichen, wodurch Forscher einen beispiellosen Blick in winzige Details von molekularen und atomaren Merkmalen erhalten. Als solches kann es den wissenschaftlichen Prozess drastisch verbessern und beschleunigen und Ergebnisse einer bisher unmöglichen Klarheit und Auflösung liefern.