Gebraucht LEO / ZEISS 1450VP #293660400 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1450VP Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungsgerät, das für eine umfassende Probenanalyse entwickelt wurde. Es verfügt über ein hochauflösendes bildgebendes und analytisches System mit verbesserter Präzision und Vielseitigkeit im Vergleich zu früheren Generationen von SEMs. Die Probenkammer von LEO 1450VP ist für die Aufnahme von Proben mit einem Durchmesser von bis zu 8 cm ausgelegt. Es ist in der Lage, eine zerstörungsfreie Tiefenprofilierung sowie eine sekundäre und/oder rückgestreute Elektronenbildgebung durchzuführen. Die ZEISS 1450VP Säule ist mit einer extrem zuverlässigen X-Line Feldemissionskanone (FEG) mit einer Lebensdauer von über 20.000 Stunden ausgestattet. Diese qualitativ hochwertige Quelle gewährleistet 1450VP erzeugt hervorragende sekundäre Elektronenbilder, unabhängig davon, ob die Oberfläche glatt oder rau ist. Es verfügt über einstellbare Betriebsparameter, um die Elektronenintensität nach Bedarf abzustimmen. LEO/ZEISS 1450VP verfügt über eine drehbare Kipp-/Drehprobenstufe mit integrierter vertikaler Hubstufe. Die neigbare Stufe erleichtert die Probenahme, während der vertikale Hub die Flexibilität und Reichweite des Mikroskops erhöht. Zusätzliches Zubehör wie eine Edmund Optics 3D optische Superresolution-Einheit und ein sekundärer Elektronendetektor verbessern die Präzision und Genauigkeit von bildgebenden Experimenten. LEO 1450VP verfügt auch über eine breite Palette von Analysefähigkeiten, einschließlich Elementaranalyse, Phasenanalyse und kristallographische Analyse. Seine Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX) Maschine ermöglicht sowohl die Detektion als auch Quantifizierung von Elementen und Phasen in einer Probe. Es wird mit einem GADDS Diffraktometer geliefert, um die kristalline Struktur der Probe zu analysieren. ZEISS 1450VP verfügt zudem über einen hochpräzisen Wegsensor, der Probenbewegungen bis zu 0,1 Nanometer detektiert. 1450VP hat eine Vielzahl von Softwareoptionen, die die Verwendung noch einfacher machen. Die Eagle Software-Suite umfasst eine Point-and-Click-GUI-Schnittstelle, eine Bibliothek mit SEM-Bildgebungsrezepten und erweiterte Analysewerkzeuge. Die Funktion Smart Workflows ermöglicht es Anwendern, den FEG-Strahl schnell und einfach auf eine optimale Bildgebung oder Analyse auszurichten. Usability ist auch ein wichtiger Faktor im Design von LEO/ZEISS 1450VP. Es verfügt über wesentliche Funktionen wie eine Videokamera, Fußschalter-Steuerelemente und Vakuum-Bedienfeld. LEO 1450VP ist auch mit einem ausfallsicheren Mechanismus für den Elektronenstrahl ausgestattet, der die Sicherheit von Bedienern und Proben gewährleistet. Ausgestattet mit seinem robusten Design, einer breiten Palette von Funktionen und intuitiver Software ist ZEISS 1450VP Scanning Electron Microscope perfekt für Forscher, die eine fortschrittliche Analyse für die Materialforschung durchführen möchten. Es ist sehr flexibel und vielseitig und bietet die perfekte Plattform für eine Vielzahl von Probenerkundungs- und Analysebedürfnissen.