Gebraucht LEO / ZEISS 1450VP #293755515 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1450VP Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Instrument zur Beobachtung und Analyse der Oberfläche eines Materials bis zum Nanometerspiegel, das eine hochauflösende Bildgebung und topographische Analyse ermöglicht. Sie besteht aus zwei Hauptkomponenten, der Elektronensäule und der Detektionseinrichtung. Die Elektronenkanone besteht aus einer achromatischen Kondensatorlinse, Kondensatoröffnung, Objektivlinsen und einem Beugungsgitter zur Erzeugung von Sekundärelektronen. Eine elektrostatische Säule umfasst ferner eine elektrostatische Verschiebung und eine Absorptionsprobenkammer. Das Detektionssystem ist mit der Säule verbunden und besteht aus einem halbkugelförmigen Elektronendetektor, der die Messung von Energie, Winkelspreizung und Rückstreuung von Elektronen ermöglicht. Die Beschleunigungsspannung von LEO 1450VP SEM ist variabel, von 1 kV bis 30 kV, und der Strom beträgt bis zu 300 μ A, was eine hochauflösende Bildgebung und Analyse sowie eine breite Palette von Beobachtungen ermöglicht. Das Mikroskop ermöglicht eine breite Palette von Abbildungsmodi, einschließlich variablen Druck (VP) Modus für flüssige Proben, variablen Druck (VPS) Modus für Gase, und variablen Druck Rasterelektronenmikroskopie (VP-SEM) Modus, der die höchste Auflösung bietet. ZEISS 1450VP SEM ist mit einer automatisierten Stufe ausgestattet, die die Probenpositionierung mit höchster Präzision ermöglicht. Diese Einheit steuert die Probenbewegung automatisch nach benutzerdefinierten Parametern wie Fahrgeschwindigkeit, Richtung und Position. Das Mikroskop verfügt zudem über eine automatisierte Neigung, die die Einstellung der Probenpositionierung sowohl vertikal als auch horizontal bis etwa 90 ° ermöglicht. Die Datenerfassungsmaschine von 1450VP SEM umfasst zwei Abbildungsmodi. Der erste ist ein Einzelpunkt-Modus, der die Erfassung eines einzelnen Bildes eines ganzen Sichtfeldes ermöglicht. Der zweite Modus ist ein Mehrpunktmodus, der es dem Benutzer ermöglicht, mehrere Bilder eines einzelnen Sichtfelds zu erfassen. Darüber hinaus wurde das Tool entwickelt, um digitale Daten in Formaten wie JPEG-, TIFF- und BMP-Bilddateien einfach auszugeben. LEO/ZEISS 1450VP SEM ermöglicht es Benutzern, Daten mit höchster Genauigkeit und Präzision zu erfassen sowie eine Reihe weiterer nützlicher Funktionen wie automatisierte Bildnähte und Montagen bereitzustellen. Dies macht das SEM zu einem äußerst nützlichen Werkzeug für Forscher, die Proben auf Nanometerniveau beobachten und analysieren möchten, und eignet sich gut für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Biologie und Geologie.