Gebraucht LEO / ZEISS 1450VP #9230342 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1450VP ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM) mit der höchstmöglichen Auflösung zur Erzeugung extrem detaillierter Bilder von Oberflächen aus einer Vielzahl von Materialien. Es verwendet eine einzigartige Kombination von leistungsstarken SEM-Funktionen, um eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten zur Erkundung von Probenoberflächenbereichen bereitzustellen. Zu seinen Eigenschaften gehört das innovative hochauflösende Bildgebungssystem, das eine hervorragende Bildqualität bietet und eine präzise Abbildung von Probenkomponenten ermöglicht. Seine Feldemissionsquelle erzeugt extrem niedrige Elektronenstreuung, so dass Benutzer den Probenkontrast maximieren können. Mit einer Reichweite von Öffnungen bleibt eine hochauflösende Bildgebung auch für fragile Proben verfügbar. LEO 1450VP bietet auch eine Reihe von erweiterten Manipulationsfunktionen, einschließlich automatischer X-Y-Ausrichtung, Bildnähten, Scanbühnenbewegung und Softwarekontrolle über Vergrößerung. Auf diese Weise kann der Benutzer Datensätze erfassen, die viele überlappende Bilder aus derselben Probe enthalten und ein vollständiges Bild der Probe liefern. ZEISS 1450VP beinhaltet auch eine Reihe von analytischer Hardware und Software. Dazu gehören die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und die Elektronenspektroskopie für die chemische Analyse (ESCA). Das Röntgen-EDS kann die Zusammensetzung von Proben auf der Nanoskala messen, während die ESCA-Analyse verwendet wird, um hochauflösende Informationen über die Oberflächenchemie mit einer Genauigkeit bis zum atomaren Niveau zu erhalten. Das Potenzial von 1450VP, wertvolle Daten bereitzustellen, wird durch eine maximale Auflösung von 0,7 nm, eine Beschleunigungsspannung von bis zu 30kV und eine Fokussierung des Elektronenstrahls von 0,2-4 nm unterstützt. Die Maschine nutzt auch einen Semi-Brennpunkt-Filament, einen BSE-Detektor, Kühler, eine Autozentrierfunktion und ein Potenzial für den automatisierten Betrieb. Dies ermöglicht eine breite Palette von Probeninspektionen und Analysen, von der allgemeinen Charakterisierung mikroskopischer Materialien bis zur Bildgebung und Beschreibung extrem großer und komplexer Proben. Eine breite Palette von analytischen Techniken sind auch verfügbar, wie sekundäre Elektronenbildgebung, Röntgenabbildung, Phasenkontrastbildgebung, digitale Bildverarbeitung, statische und dynamische Bildverbesserung und Multi-Achsen-Analyse. Insgesamt bietet LEO/ZEISS 1450VP ein hervorragendes Mittel zur Untersuchung von Materialien, Oberflächen und Komponenten für ein breites Anwendungsspektrum in den Bereichen Wissenschaft und Technik. Seine ausgeklügelten Eigenschaften, kombiniert mit hoher Genauigkeit und Auflösung, machen dieses SEM zu einer hervorragenden Wahl für viele Probenstudien.