Gebraucht LEO / ZEISS 1450VPSE #293818689 zu verkaufen

ID: 293818689
Weinlese: 2002
Scanning Electron Microscope Electron Source: Tungsten hairpin filament Resolution: 3.5 nm at 30 kV (high vacuum), 5.5 nm at 30 kV (BSD-VP mode) Variable Pressure: 1 Pa to 400 Pa Accelerating Voltage: 0.2 kV to 30 kV Magnification: 9x to 900,000x Probe Current: 1 pA to Optibeam controlled Everhart Thornley SE detector Variable Pressure Secondary Electron (VPSE) detector Stage: 5-axis motorized (X=100mm, Y=125mm, Z=60mm, Tilt 0-90°, Rotation 360°) EDAX P7715 Energy‑Dispersive X‑ray Spectroscopy (EDS) System Turbo pump.
Das LE0LEO/ZEISS 1450VPSE ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine umfassende Analyse sowohl kleiner als auch größerer Proben ermöglicht. Es ist ein Allzweckmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen in Wissenschaft, Forschung und Industrie geeignet ist. LEO 1450VPSE verwendet ein VPSE-System (Variable Pressure Scanning Electron Microscopy), um Bilder und Messungen bei sehr hoher Auflösung und Vergrößerung zu erhalten. Es kombiniert eine hochauflösende Elektronensäule mit einem automatisierten Präzisionsbewegungssystem für eine optimale Probenoberflächenumgebung. Der abstimmbare Druck ermöglicht den Einsatz des Mikroskops in den anspruchsvollsten Anwendungen. Die hohe Auflösung von ZEISS 1450VPSE ermöglicht die Abbildung von Mikro- und Nanostrukturen. Kristalline, amorphe und metallische Materialien können auch in komplizierten Formen durch Umkehr der Kontrastpolarität hochauflösend abgebildet werden. Darüber hinaus bietet das Mikroskop Partikelanalysen für Partikel und Fasern sowie Tomographie für die dreidimensionale Bildgebung. 1450VPSE mit einer breiten Palette von Detektoren zur Herstellung einer Vielzahl von Abbildungsmodi für spezifische Anwendungen. Der EDS oder EDAX Detektor ermöglicht Elementaranalysen mit Materialidentifikation. Zur Identifizierung verschiedener Elemente in der Probe wird ein Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDS) verwendet. AES (Auger Electron Spectroscopy) und RBS (Rutherford Backscattered Spectroscopy) Detektoren können verwendet werden, um die Dicke und Zusammensetzung von dünnen Schichten zu messen. Ein rückgestreuter Elektronendetektor (BSED) ermöglicht die Abbildung von topographischen Merkmalen, wie Korngrenzen, ohne Beschichtung. LEO/ZEISS 1450VPSE enthält auch eine vollautomatische XY-Stufe für einfache Musterausrichtung und Manipulation. Eine integrierte Lösung für den Fernbetrieb des Mikroskops über eine Netzwerkverbindung ist ebenfalls verfügbar. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, Bildmoduseinstellungen aus der Ferne auszuwählen und zu erstellen sowie Bilder auch von mehreren Websites zu erfassen und zu steuern. LEO 1450VPSE wurde entwickelt, um Endanwendern maximale Produktivität und minimale Ausfallzeiten zu bieten. Es ist mit intuitiven Funktionen ausgestattet, die es Benutzern ermöglichen, direkt auf ihre bildgebenden Aufgaben zu kommen, ohne sich Zeit zu nehmen, die Software zu lernen. LE0ZEISS 1450VPSE ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern ein umfassendes und flexibles Werkzeug zur Durchführung von Forschungsarbeiten bietet.
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