Gebraucht LEO / ZEISS 1455 #9162511 zu verkaufen
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ID: 9162511
Scanning electron microscope (SEM)
Nano prober
Cryogenic assembly
(2) LEYBOLD coolpak 4000 cryo compressors
Model no: Coolpak 4000
(2) VAT Gate valves, model no: 12144-PA44-0001
(2) OERLIKON LEYBOLD sensors, model no: 230070
(2) LEYBOLD 3000 CL coolvac cryo compressors
Main body
(1) KAMMRATH & WEISS ZR stage controller
(1) Zyvex IC nanoprober system
Four needle prober module
(1) HITEK Power supply, Model no: G303 / 56
(1) Varian TV 301NAV turbo pump controller, model no: 9698918S011
(1) HITEK power supply, model no: 1P100 / 502 / 05 A1021120
Chiller
ATC Applied thermal control chiller, model no: KTR6000
Controllers
(1) LEYBOLD center one
(1) LEYBOLD coolvac SC
(2) LEYBOLD coolvac PS
(1) Dell Pentium 4 desktop computer
(1) Desktop computer, model no: 3475239010200
(1) KAMMRATH and WEISS micro module controller
(1) KAMMRATH and WEISS joystick prober controller
(1) Prober stage piezo and motor controller
(1) KEITHLEY 708A switching system
(1) Analog way graphic switcher 2
(16) Computers and video inputs
Seamless switcher
Mixer / Scaled data output, model no: GSW2814
(1) Analog way 1x graphic switcher remote controller unit, model no: RCU 2811A
Miscellaneous
(1) COHU CCD camera, model no: 22521040 / 0000.
LEO/ZEISS 1455 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in einer Vielzahl von Labor- und Forschungseinstellungen entwickelt wurde. Dieses Gerät ist ein unschätzbares Werkzeug für Wissenschaftler bei der Untersuchung von Materialien im Nanometermaßstab und für die schnelle Analyse fortschrittlicher Materialien. Zu den Hauptkomponenten von LEO 1455 gehören eine Elektronenquelle, ein Detektionssystem, eine x-y-Stufe und eine Elektronenkanone. Die Elektronenquelle emittiert einen niederenergetischen, hochstromigen Elektronenstrahl, der durch die Probe hindurchgeht und ein Detektionssystem erreicht. Das Detektionssystem erfasst dann die Wechselwirkungen zwischen den Elektronen und der Probe. Die x-y-Stufe in ZEISS 1455 ist eine geregelte Translationsstufe, die eine schrittweise Bewegung der Probe in zwei unabhängigen Achsen ermöglicht. Dadurch kann der Anwender die Probe mit dem Elektronenstrahl präzise anvisieren und die Vergrößerung des Bildes präzise steuern. Die Elektronenkanone ermöglicht eine Vielzahl von Strahlgrößen für verschiedene Konfigurationen. 1455 erzeugt hochauflösende Bilder von Strukturen und Oberflächen im Nanometermaßstab. Es bietet sowohl helle Feld-und Dunkelfeld-Bildgebung, und der Benutzer kann zwischen mehreren Abbildungsmodi wie sekundäre Elektronenbildgebung, sekundäre neutrale Atom-Bildgebung und Rückstreuelektronenbildgebung wählen. Das Gerät ist mit einer fortschrittlichen Elektronenoptik ausgestattet, die elektrostatische und magnetische Linsen enthält, um die Bildauflösung zu verbessern. Die Energieauflösung von LEO/ZEISS 1455 ist extrem hoch und ermöglicht eine Auflösung von bis zu 3 nm in einigen Konfigurationen. Das Gerät ist in der Lage, Bilder mit nur 6 Elektronen pro Pixel zu erzeugen, und sein Elektronendetektor kann Signale bei niedrigen und hohen Energien detektieren. Das hohe Signal-Rausch-Verhältnis dieses Gerätes ermöglicht die Erfassung von sogar Sub-10nm-Merkmalen. LEO 1455 verfügt über eine Reihe automatisierter Parameter, von der Positionierung der Probe bis zur Einstellung der Abbildungsparameter. Es ist so konzipiert, benutzerfreundlich zu sein, mit einer 7-Zoll-Touchscreen-Schnittstelle, die es dem Benutzer ermöglicht, das Mikroskop schnell und einfach zu steuern. Insgesamt ist ZEISS 1455 eine ausgezeichnete Wahl für Wissenschaftler und Forscher, die ein zuverlässiges und leistungsstarkes SEM suchen. Es kann hochauflösende Bilder in extrem kleinen Skalen bereitstellen, was es zu einem unschätzbaren Werkzeug für Nanomaterialien-Analyse und fortschrittliche Materialforschung macht.
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