Gebraucht LEO / ZEISS 1455VP #293777704 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1455VP ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das für die routinemäßige und forschungstechnische Abbildung von Oberflächenmorphologie und Partikelanalyse entwickelt wurde. Es wird mit einem Entdecker des everhart-thornley (ET) ausgerüstet, mit hoher Auflösung Bildaufbereitung berücksichtigend, Oberflächen und einen channeltron Elektronentdecker für die sekundäre Hochleistungselektronbildaufbereitung nichtzuführen. Dieses SEM hat auch eine In-Objektiv-Niedervakuum-Ausrüstung für die Abbildung von isolierenden Materialien und eine zusätzliche Hochspannungsquelle von bis zu 30 kV für größere Schärfentiefe. LEO 1455VP nutzt die Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie (FE-SEM), die einen erhöhten Strom pro Flächeneinheit erzeugt als andere SEM-Systeme, was eine hervorragende bildgebende Auflösung ermöglicht. Das FE-SEM-System verwendet ein Pistolenfaden, um Elektronen mit höherer Energie als Thermionkanonen zu erzeugen und ist in der Lage, eine kleinere, fokussiertere Sonde für die beste erreichbare Auflösung bereitzustellen. Dieses Mikroskop ist mit einem ultrahochauflösenden Everhart-Thornley (ET) -Detektor ausgestattet, der eine maximale Auflösung der Probenoberfläche und genaue Partikelgrößen ermöglicht. ZEISS 1455VP ist außerdem mit einer automatisierten visuellen Zugriffseinheit ausgestattet, die eine präzise Positionierung und Bühnensteuerung der Proben ermöglicht. Es enthält eine automatisierte Bilderfassungsmaschine, die eine einfache Speicherung von Daten und eine zuverlässige Bildauswahl ermöglicht. Das Mikroskop ist in der Lage, sowohl Stand- als auch bewegliche digitale Bilder zu erzeugen. 1455VP eignet sich für viele verschiedene Arten der Bildgebung, darunter dreidimensionale Oberflächenbildgebung (3D FIB-SEM), Gain and Contrast Control Imaging (ACE) und die Erzeugung von Röntgenmikroanalyse-Daten (EDX). Es verfügt außerdem über ein vakuumarmes Werkzeug, das eine einfache Abbildung auf nichtleitenden Oberflächen mit minimaler Streuung ermöglicht. LEO/ZEISS 1455VP ist ein wesentliches Stück wissenschaftlicher bildgebender Ausrüstung für die Probenanalyse in der industriellen, akademischen und medizinischen Forschung. Es kann sehr detaillierte Bilder von Partikeln und Oberflächenmerkmalen liefern, so dass Forscher Merkmale identifizieren können, die durch konventionelle Mikroskopie versteckt werden können. Die hochauflösende Bildgebung und die einfache Probenvorbereitung machen dies zu einer beliebten Wahl für Forscher, die High-End-SEM-Fähigkeiten benötigen.