Gebraucht LEO / ZEISS 1455VP #9089413 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1455VP Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges und leistungsstarkes digitales Bildgebungswerkzeug für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen. LEO 1455VP bietet überlegene Auflösungs- und Analysefunktionen, die es Forschern ermöglichen, Bilder höherer Qualität zu erhalten, zuverlässige Messungen zu erhalten und Einblicke in die submikroskopische Welt mit höherer Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu erhalten. Dieses SEM verfügt über ein Standard-Dual-Objektiv, Dual-View-Betrieb ermöglicht die gleichzeitige Abbildung von Probenoberflächen und unterirdischen Bereichen im Hoch- und Niedervakuum-Modus. Seine 15KV Beschleunigungsspannung ermöglicht die Übertragung hochwertiger Elektronen, um eine hochauflösende Abtastung der Oberfläche der Probe in einem vergrößerten Maßstab zu erzeugen, der mit Lichtmikroskopen nicht erreichbar ist. ZEISS 1455VP verfügt außerdem über eine große Probenkammer für eine Vielzahl von Proben und einen integrierten EDS-Detektor für die Elementaranalyse. Zur weiteren Verbesserung der Auflösung der aufgenommenen Bilder stehen Stand der Technik Mehrkanaldetektoren zur Verfügung. 1455VP verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche und ein großes Touchscreen-Display zur besseren Steuerung von Parametern und Bildanalysen. Dieses SEM verfügt über eine 3-Achsen-Stufe zur automatischen Abtastung und Positionierung von Proben, die eine präzise Einstellung und Bewegung der Proben ermöglicht. Darüber hinaus verfügt LEO/ZEISS 1455VP über einen spezialisierten Niederspannungs-Abbildungsmodus zur Abbildung nichtleitender Proben ohne Ladeeffekte. Das neue LEO 1455VP bietet maßgeschneiderte Software für eine Vielzahl von Anwendungen wie Nanometer-Skalenbildgebung, Fehleranalyse, Oberflächencharakterisierung und Messtechnik, Materialanalyse und Fehleranalyse. Dieses SEM bietet eine breite Palette an zusätzlichen Funktionen, darunter eine Neigungsstufe für den einstellbaren Probenwinkel, einen Dünnschichteinsatz für die Bildgebung mit hohem Kontrast und eine 10: 1-Reduktionslinse für größere Probenaufnahmen und vergrößerte Bilder. Darüber hinaus ist ZEISS 1455VP für Anwendungen, die ESD (Electron Microscope Diffraction) erfordern, mit einem integrierten ESD-System und einem kompletten Zubehör ausgestattet. Ein einzigartiges Merkmal von 1455VP ist der LEO M-View-Modus, mit dem der Benutzer beobachten kann, wie Bilder in der Fluoreszenz-, Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie miteinander verglichen werden, wodurch umfassende Studien erstellt werden. Insgesamt ist LEO/ZEISS 1455VP SEM ein leistungsstarkes Werkzeug, das höhere Auflösung, Zuverlässigkeit und Genauigkeit liefert und Anwendern die ultimative Leistung beim Scannen von Elektronenmikroskopen bietet.