Gebraucht LEO / ZEISS 1455VP #9285391 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom


Verkauft
ID: 9285391
Weinlese: 2002
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM)
Source type: Tungsten
Motorized X, Y, Z stage type
With removable block
Detectors:
BSD
BSE
Operating system: Windows XP
Power supply: 208-240 V, 50/60 Hz
2002 vintage.
LEO/ZEISS 1455VP ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende bildgebende und analytische Anforderungen. Es ist eines der flexibelsten und vielseitigsten SEMs auf dem Markt und bietet ein breites Spektrum an Features und Funktionen mit optimierter Leistung für Material- und Life-Sciences-Anwendungen. LEO 1455VP bietet eine breite Palette elektronenoptischer Konfigurationen für bildgebende und analytische Anforderungen. Die hochauflösende Optik bietet bis zu 5 nm Auflösung für kleinere Proben, während die großflächigen und flexiblen Abbildungsmodi die Abbildung größerer Strukturen ermöglichen. Die Elektronenquelle kann bis zu 30kV und 350kW Leistung liefern, was hohe Auflösungen, hohe Vergrößerungen und eine schnelle Abtastdynamik ermöglicht. ZEISS 1455VP SEM verfügt auch über eine Reihe fortgeschrittener analytischer Fähigkeiten, einschließlich der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS), der Energy Filtering Transmission Electron Microscopy (EFTEM) und der Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD). Die EDS-Funktionen ermöglichen eine elementare Analyse, während das EFTEM für die elementare Abbildung dickerer Proben optimiert ist. EBSD bietet eine verbesserte Analyse der kristallinen Struktur in einer Reihe von organischen und anorganischen Materialien. 1455VP SEM verfügt über eine Reihe von eingebauten Sicherheitsfunktionen, darunter ein Hochstufen-Kollisionskontrollsystem, einen optischen Kammermonitor mit niedrigem Vakuum und eine Septum/Verschluss-Kombinationseinheit. Dies ermöglicht eine sichere und genaue Bedienung. Das benutzerfreundliche Design des SEM macht es einfach zu bedienen, und seine intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht eine schnelle und einfache Bedienung. LEO/ZEISS 1455VP Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches und vielseitiges Instrument, das hochauflösende Bildgebung, quantitative Analyse und eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten bietet. Von Life-Science-Anwendungen bis hin zur Materialcharakterisierung kann LEO 1455VP die Bedürfnisse jedes Forschers erfüllen. Seine Reihe von fortschrittlichen Funktionen, robustes Design und ausgezeichnete Leistung machen es zu einer idealen Wahl für jede Elektronenmikroskopie-Anwendung.
Es liegen noch keine Bewertungen vor