Gebraucht LEO / ZEISS 1530 #293624721 zu verkaufen
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ID: 293624721
Weinlese: 2014
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
EBSD Camera missing.
LEO/ZEISS 1530 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsfähiges bildgebendes Gerät, das von Wissenschaftlern und Forschungseinrichtungen zur Beobachtung und Analyse der Mikrostruktur von Materialien verwendet wird. Es erzeugt hochauflösende Bilder der Oberfläche von Proben mit Abmessungen bis zu 0. LEO 1530 SEM ist ein Tischgerät, mit dem Merkmale so klein wie ein Nanometer (nm) erkannt werden können. Es enthält eine Schottky Field Emission Source (FE-SEM), die es dem Anwender ermöglicht, überlegene Bildgebungsleistung und -auflösung zu erzielen. Das FE-SEM wurde entwickelt, um Störungen durch Verunreinigungen und andere externe Faktoren zu reduzieren und die Gesamtqualität der Bildgebung zu verbessern. ZEISS 1530 Rasterelektronenmikroskop hat einen Vergrößerungsbereich von 10x bis 400.000x. Es enthält eine Edmund Typ 563 Kamera, die digitale Standbilder mit bis zu 16 Millionen Pixel Auflösung aufnehmen kann. Diese Funktion ermöglicht eine detaillierte Analyse von Teilen der Probe sowie ganzer Oberflächenbilder. Bilder können direkt in einer digitalen Datei zur späteren Betrachtung oder zur Weiterverarbeitung gespeichert werden. Weitere Merkmale von 1530 SEM sind ein digitaler Bildprozessor, der in der Lage ist, Bildverarbeitung auf bis zu vier Bildern gleichzeitig durchzuführen. Es enthält auch sowohl eine Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) als auch einen autofokussierenden, hochwinkligen ringförmigen Dunkelfelddetektor (HAADF). Beide Eigenschaften verbessern Auflösung und Kontrast in Bildern von Proben. Das SEM umfasst auch eine Reihe von Vakuum- und Umweltkontrollmöglichkeiten, die es für die Forschung in einer Vielzahl von Situationen geeignet machen. Dazu gehören eine Feuchtekammer, Heizbereiche und die Steuerung des Drucks und der Zusammensetzung der Atmosphäre. Zusammen ermöglichen diese Funktionen dem Benutzer, die Umgebung rund um seine Probe genau zu steuern und unter verschiedenen Spannungen oder Belastungen zu beobachten. Insgesamt ist das Rasterelektronenmikroskop LEO/ZEISS 1530 ein äußerst leistungsfähiges Bildgebungswerkzeug und für jede Forschungseinrichtung von unschätzbarem Wert. Mit seinem breiten Spektrum an Funktionen ist es in der Lage, detaillierte Bilder und Analysen von mikroskopischen Merkmalen in einer Vielzahl von Proben bereitzustellen.
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