Gebraucht LEO / ZEISS 1530 #293631668 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1530 ist ein voll integriertes multifunktionales Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM). Es wurde entwickelt, um eine hochauflösende Abbildung von Partikeloberflächen und anderen Proben sowohl in der Forschung als auch in der Industrie zu ermöglichen. Dieses FE-SEM ist mit modernsten Technologien wie elektronenrückgestreuter Beugung, energiedispersiver Röntgenspektroskopie, Rasterübertragungselektronenmikroskopie, Elektronentomographie und Niederspannungsmikroskopie ausgestattet und eignet sich somit für eine Vielzahl von Anwendungen. LEO 1530 bietet eine außergewöhnliche Kombination aus hochauflösender Bildgebung und fortschrittlichen analytischen Funktionen. Seine hochpräzise nanoskalige Leistung ermöglicht es, knackige, hochauflösende Bilder von Partikeln zu liefern, deren Größen von wenigen Nanometern bis zu mehreren hundert Mikrometern reichen. Eine automatisch getrocknete flüssige stickstoffgekühlte Elektronenquelle sorgt für eine stabile und langfristige hochauflösende Abbildung, während ein automatisierter sekundärer und rückgestreuter Elektronendetektor (BSED) eine einfache Charakterisierung von Elektronenbeugungsmustern, Korngrenzen und anderen Probenmerkmalen ermöglicht. Das FE-SEM verfügt auch über erweiterte Automatisierungsfunktionen, darunter eine Autofokus-Funktion und ein automatisiertes Muster-Handling-System, das eine schnelle und genaue Musterpositionierung ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht eine Vielzahl von standortspezifischen Sonden den Anwendern die schnelle Erfassung von Daten auf der Nanoskala. ZEISS 1530 bietet eine Vielzahl von analytischen Fähigkeiten, einschließlich der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX), der Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und der Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS). Durch die Kopplung von EDX und AALEN mit der STEM-Bildgebung können Anwender die elementare Zusammensetzung, die Bindungsenergie, die elektronische Struktur und die Bindungslängen einer Probe analysieren. Das XPS-Bildgebungssystem bietet außerdem eine zusätzliche Informationsschicht, mit der Benutzer die Zusammensetzung, den Oxidationszustand und die chemische Umgebung einer Probe untersuchen können. 1530 verfügt auch über ein fortschrittliches Softwarepaket, das die Möglichkeit beinhaltet, Bildgebungsparameter für eine optimale Analyse anzupassen, automatisierte Messungen durchzuführen und verschiedene Arten von Mikroskopiebildern zu erzeugen. Darüber hinaus bietet dieses Softwarepaket 3D-Bildgebungsfähigkeit, so dass Benutzer Beispielfunktionen aus verschiedenen Blickwinkeln analysieren können. Diese Eigenschaften, kombiniert mit LEO/ZEISS 1530 hervorragende Leistung und hochauflösende Bildgebungsfunktionen machen es zu einem idealen Werkzeug für eine breite Palette von nanoskaligen Anwendungen.