Gebraucht LEO / ZEISS 1530 #9244400 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9244400
Weinlese: 1999
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Electron source: Schottky field emitter
Resolution:
1 nm @ 20kV (2 mm WD)
3 nm @ 1kV (2 mm WD)
Accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Probe current: 4pA to 10nA
Magnification: 20x to 900,000x
E-T Secondary electron detector
High efficiency in-lens electron detector
ROBINSON BSD
IR Chamberscope
Eucentric 5-axis motorized stage:
X: 75 mm
Y: 75 mm
Z: 25 mm
Tilt: -15° to 90°
Rotate: 360°
Does not include EDX
No EDS
1999 vintage.
LEO/ZEISS 1530 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das die Kraft von Elektronen nutzt, um eine Vielzahl von Materialien und Objekten in beispiellosen Details zu visualisieren und zu analysieren. Die LEO 1530 wurde vom optischen Giganten LEO mit Engineering der renommierten Firma ZEISS gebaut und hat die Empfindlichkeit, einzelne Atome abzubilden und Mikrostrukturen, die bisher unsichtbar waren, aufzulösen. Im Zentrum von ZEISS 1530 steht eine 3,5-nm-Feldemissionselektronenkanone, die sowohl reguläre Elektronenstrahlen als auch variable Formstrahlen (VSB) für höhere Auflösung erzeugen kann. Diese Elektronenkanone ist mit einer Reihe von Sammelvorrichtungen wie elektrostatischen Linsen, Magnetspulen und Wellenleitern zur Fokussierung des Strahls auf einen Punkt von nur wenigen Mikrometern Größe ausgestattet. Dieses Feature verleiht 1530 eine außergewöhnliche Detailtreue und Genauigkeit bei der Abbildung kleiner Strukturen. Neben der beeindruckenden Elektronenkanone ist LEO/ZEISS 1530 auch mit einem breiten Spektrum an Analyse- und Detektionssystemen ausgestattet. Dazu gehören ein fortschrittliches Energiefilter zur Analyse von Probenzusammensetzung und Bindung, dedizierte Detektoren zur Messung elektronenstrahlinduzierter Ladung und ein sekundärer Detektor zur sekundären Elektronenbildgebung. Diese Reihe von Komponenten eröffnet spannende Möglichkeiten für fortschrittliche Materialcharakterisierung. LEO 1530 verwendet auch innovative Elektronensäulentechnologien, die die Steuerung des Strahlwinkels ermöglichen und die Elektronenstreuung reduzieren. Dies verbessert die Gesamtauflösung des Instruments und ermöglicht es, kleinere und detailliertere Merkmale wie die Oberflächentopographie abzubilden. Die externe Analyse kann mit den Röntgen- und Massenspektrometriesystemen des SEM durchgeführt werden. Dies sind Schlüsselkomponenten für die Messung der chemischen Zusammensetzung von Proben und ZEISS 1530 ist mit einer erweiterten Palette von Detektoren ausgestattet, um genaue Messungen zu erzielen. Abgerundet wird das Paket durch eine intuitive und einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche, die die beeindruckenden Bildgebungs- und Analysefunktionen von 1530 nutzt. Diese intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es dem Benutzer, eine Vielzahl von Parametern einzustellen und anzupassen sowie die Vorteile automatisierter Workflows zu nutzen. Insgesamt ist LEO/ZEISS 1530 ein hervorragendes Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Bildgebungs- und Analysefunktionen für seine Anwender bietet. Mit seiner fortschrittlichen Elektronenkanone und dem Spektrum an Detektoren und Analysesystemen bietet LEO 1530 beispiellose Genauigkeit und Auflösung bei der Abbildung von Materialien und Objekten. Dies macht es zu einem idealen Instrument sowohl für die Forschung als auch für industrielle Anwendungen, bei denen hohe Auflösung an erster Stelle steht.
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